发明名称 SEMICONDUCTOR COMPONENT COMPRISING AN INTEGRATED LATTICED CAPACITANCE STRUCTURE
摘要 <p>In einer Isolationsschicht, welche auf einem Halbleitersubstrat ausgebildet ist, ist eine Kapazitätsstruktur (K) ausgebildet. Die Kapazitätsstruktur (K) weist zumindest eine erste Teilstruktur (T1a) auf, die einen metallischen gitterförmigen Bereich (G1a bis G1c) und elektrisch leitende Bereiche (P1a bis P1c) aufweist, die in den Aussparungen des gitterförmigen Bereichs (G1a bis G1c) angeordnet sind, wobei der gitterförmige Bereich (G1a bis G1c) mit einer ersten und die elektrisch leitenden Bereiche (P1a bis P1c) mit einer zweiten Anschlussleitung elektrisch verbunden sind.</p>
申请公布号 WO03090279(A8) 申请公布日期 2004.04.29
申请号 WO2003DE01171 申请日期 2003.04.09
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;DA DALT, NICOLA 发明人 DA DALT, NICOLA
分类号 H01G4/30;H01G4/33;H01G4/38;H01L21/02;H01L21/822;H01L23/522;H01L27/04;H01L27/08;(IPC1-7):H01L23/522;H01L23/538;H01G4/012;H01L23/498 主分类号 H01G4/30
代理机构 代理人
主权项
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