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Speicherschaltung mit einem zu testenden Speicherzellenfeld, wobei Speicherzellen im Speicherzellenfeld über Wortleitungen (2) und Bitleitungen (3) adressierbar sind, wobei Daten gemäß einer Ausleseadresse aus Speicherzellen über Bitleitungen (3) mit Hilfe von primären Ausleseverstärkern (5) auslesbar sind, wobei jedem sekundären Ausleseverstärker (6) eine Gruppe von primären Ausleseverstärkern (5) zugeordnet ist, wobei die primären Ausleseverstärker (5) einer Gruppe jeweils über Schalteinrichtungen (8, 12) mit einem der sekundären Ausleseverstärker (6) verbindbar sind, um das Datum von einem der primären Ausleseverstärker (5) über die durch die Ausleseadresse ausgewählte Schalteinrichtung (8, 12) an dem zugeordneten sekundären Ausleseverstärker (6) anzulegen, dadurch gekennzeichnet, dass eine Teststeuereinheit (14) vorgesehen ist, um zum Auslesen von Daten ein Teil der Schalteinrichtungen (8, 12) abhängig von einem Testmode-Signal und abhängig von einer Ausleseadresse parallel zu schalten, so dass jeweils einer aus der Gruppe der primären Ausleseverstärker (5) mit den zugeordneten sekundären Ausleseverstärkern (6) verbunden wird.
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