存储器测试电路

摘要

提供了用于产生要测试的存储器的CS信号、地址信号、数据信号或R/W信号的各个信号发生电路和用于产生这些信号发生电路的控制数据的测试设置控制电路。信号发生电路和测试设置控制电路具有移位寄存器，而且控制数据和测试数据从外部接线端串行输入这些移位寄存器。

主权项

1、一种存储器测试电路，所述存储器测试电路与存储器一同并入半导体集成电路中，所述测试电路包括：测试信号发生电路，用于产生所述存储器的测试信号；以及控制电路，用于对所述测试信号发生电路进行控制；以及其中，依照从外部输入的第一控制信号，在测试设置模式和测试执行模式间相互切换，而且从相同的接线端，串行输入在所述测试设置模式中输入所述测试信号发生电路的测试信号初始数据和用于控制所述测试信号发生电路的控制数据，以及针对所述控制电路的控制数据。