| 发明名称 |
METHOD FOR TESTING PRECURSOR OF SECONDARY CELL, ITS TESTING INSTRUMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING SECONDARY CELL USING THE METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2003255035(A1) |
申请公布日期 |
2004.03.19 |
| 申请号 |
AU20030255035 |
申请日期 |
2003.08.14 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. |
发明人 |
MIKINARI SHIMADA;MASAKAZU TANAHASHI;AKIRA TAKAHASHI;SHOUICHI IMASHUKU;TOSHIRO KUME;MASASHI SHOJI;EMIKO IGAKI;SHUJI TSUTSUMI |
| 分类号 |
G01N27/416;G01R31/36;H01M10/04;H01M10/0525;H01M10/36;H01M10/42;H01M10/44;(IPC1-7):H01M10/04;H01M10/40 |
主分类号 |
G01N27/416 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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