发明名称 | 光记录介质检查方法和光记录介质制造方法 | ||
摘要 | 本发明的目的是提供用于判断相变型介质是否可用作一次写入型介质的检查方法。在本发明中,将最短信号记录在具有相变型记录层的光记录介质中以便该最短信号的CNR等于或高于45dB,用其功率电平不能熔化该记录层的恒流激光束,以与记录该最短信号时相同的线速度照射记录有该最短信号的区域,并测量该最短信号的载波中的减小量。当该最短信号的载波中的减小量等于或低于20dB时,将该光记录介质判定为一次写入型介质。 | ||
申请公布号 | CN1483191A | 申请公布日期 | 2004.03.17 |
申请号 | CN01821456.8 | 申请日期 | 2001.11.27 |
申请人 | TDK株式会社 | 发明人 | 栗林勇;柴原正典;宇都宫肇;青井利树 |
分类号 | G11B7/004;G11B7/26 | 主分类号 | G11B7/004 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 付建军 |
主权项 | 1、一种用于检查光记录介质的方法,包括步骤:将最短信号记录在具有相变型记录层的光记录介质中以便该最短信号的CNR等于或高于45dB,利用其功率电平不能熔化记录层的恒流激光束,以与记录该最短信号时相同的线速度照射记录有该最短信号的区域,测量该最短信号的载波中的减小量,并且当载波中的减小量等于或低于20dB时,将该光记录介质判定为一次写入型介质。 | ||
地址 | 日本东京都 |