发明名称 Method and apparatus for thin film thickness mapping
摘要
申请公布号 AU2003265462(A8) 申请公布日期 2004.03.11
申请号 AU20030265462 申请日期 2003.08.15
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP.;HYPERNEX, INC. 发明人 KRZYSZTOF J. KOZACZEK;DAVID S. KURTZ;PAUL R. MORAN;ROGER I. MARTIN;PATRICK W. DEHAVEN;KENNETH P. RODBELL;SANDRA G. MALHOTRA
分类号 G01B15/02;G01N23/20 主分类号 G01B15/02
代理机构 代理人
主权项
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