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发明名称 System and method for self-testing and repair of memory modules
摘要
申请公布号 AU2003258104(A8) 申请公布日期 2004.03.03
申请号 AU20030258104 申请日期 2003.08.05
申请人 MICRON TECHNOLOGY, INC. 发明人 JOSEPH M. JEDDELOH
分类号 G06F12/16;G11C29/00;G11C29/44;G11C29/48;(IPC1-7):G11C7/00;G01R31/28 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
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