发明名称 具有批量追踪之买主,多个供给者,多级供给链管理系统
摘要 本发明揭示一种在一用于为透过网际网路连接之一个或一个以上买主构成供给链之多个供给者之环境中的全球供给链管理系统。该系统包括一具有对应逻辑的全域型处理器,用于对应每个买主和每个供应者的「区域」供给资讯,其中该「区域」供给资讯是在具有与每个买主和每个供应者之区域资讯关系之主资讯的一个或一个以上属性表中表示。该系统管理从一批量之输入通过供给者级至一输出的处理程序,其中用户端都使用分散的不同区域资讯。一关联性装置使用所有该等级共同之基础批量(base lot)识别项且每个批量都有一个识别项,以及执行供给链管理功能,用于追踪通过该等供给者级的批量。
申请公布号 TW578076 申请公布日期 2004.03.01
申请号 TW091116143 申请日期 2002.07.19
申请人 盖斯利康公司 发明人 露平 杨;明唐 汤玛士 尹;艾德恩 劳;西昆 韦;强森C 李
分类号 G06F17/60 主分类号 G06F17/60
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种适用于多个用户端的供给链管理系统,其中该等用户端包括一个或一个以上买主及复数个供给者,其中该等一个或一个以上买主开立订单给复数个该等供给者,用于透过复数个供给者级处理一输入至一输出,其中该输入是一个或一个以上批量,其中该等用户端都使用该等用户端之每个用户端特有之分散的不同区域资讯,改良特征为,一资料库存放区,用于储存该等用户端之每个用户端的区域资讯,关联性装置,用于使该等用户端之间的该区域资讯与对应资料互相关联并且构成主资讯,该关联性装置包括该等级共同使用的一个或一个以上基础批量识别项,所有该等一个或一个以上基础批量都有一个识别项,逻辑装置,用于执行供给链管理功能,以使用该等基础批量识别项追踪通过该等供给者级的批量。2.一种适用于多个用户端的供给链管理系统,其中该等用户端包括复数个买主及复数个供给者,其中该等买主开立订单给复数个该等供给者,用于透过复数个供给者级处理一输入至一输出,该等用户端都使用该等用户端之每个用户端特有之分散的不同区域资讯,改良特征为,网路通信装置,用于互相连接该等用户端,以维护该供给链管理系统中现有的该区域资讯,一资料库存放区,用于在具有与区域资讯互相关联之主资讯的一个或一个以上资料表中储存主资讯,全域型处理装置,用于处理所有该等用户端的供给链管理资讯,该全域型处理装置包括,关联性装置,用于使该等用户端之间的该区域资讯互相关联,该关联性装置包括,输入对应装置,用于将该等用户端之每个用户端的该区域资讯对应成对应资料,以提供要储存于该资料库存放区中的主资讯,该对应装置对应所有该等级共同的基础批量识别项,该等一个或一个以上基础批量都有一个识别项,逻辑装置,用于存取用以执行供给链管理功能的该主资讯,以追踪通过该等供给者级的批量并且提供管理资料,输出对应装置,用于将该管理资料对应至该等用户端的区域资料。3.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,该系统包括连接装置,用于透过网际网路连接该等用户端。4.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,该系统包括资料表,用于储存介于该主资讯与该等用户端之每个用户端的该区域资讯之间的关联性。5.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该关联性装置包括具有用于侦测该对应资料中错误之资料检查装置的资料完整性装置。6.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该关联性装置包括具有用于修正该对应资料中错误之资料整理装置的资料完整性装置。7.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该输入是一批量。8.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该输入是一批量,并且会在该等级的任一级将该批量分隔成用于执行同一类型处理的两级或两级以上不同级。9.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该输入是批量,并且会在用于执行同一类型处理之该等级的任何两级或两级以上级,将该批量组合以在一下游级中处理。10.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该供给者经由电子记录供应区域供给者资讯。11.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该供给者经由电子记录和报告中的资料将区域供给者资讯供应至该系统,并且其中该关联性装置包括该资料完整性装置,该资料完整性装置的操作系检查记录内的资料一致性、报告内的资料一致性、跨一特定供给者之不同报告的资料一致性、来自多个供给者与一个或一个以上买主之资料间的资料一致性、来自多个供给者之资料间的资料一致性。12.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该等供给者级包括Fab(制造)、Wafer Sort(晶圆分检)、Assembly(装配)及Final Test(积体电路测试)之一级或一级以上,用于进行从输入至输出的处理。13.如申请专利范围第12项之系统,其中该等供给者级包括Fab(制造)、Wafer Sort(晶圆分检)、Assembly(装配)和Final Test(积体电路测试)及一级或一级以上额外级。14.如申请专利范围第13项之系统,其中该等一级或一级以上额外级包括封装(Packaging)、晶圆植凸块(Bumping)及行销(Marking)。15.如申请专利范围第12项之系统,其中该输入是一批量。16.如申请专利范围第12项之系统,其中该输入是一晶圆批量。17.如申请专利范围第12项之系统,其中该输入是一晶粒批量。18.如申请专利范围第12项之方法,其中该输出是成品。19.如申请专利范围第12项之方法,其中该输出是晶粒。20.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该输入包括复数个批量,其中该资料库存放区储存一个或一个以上资料表,用于储存介于该主资讯与该等买主之每个买主和该等批量之每个批量之供给者的该区域资讯之间的关联性,其且其中该等资料表之每个资料表都具有所有资料表共同的该等基础批量识别项之唯一基础批量识别项,用于识别该等批量。21.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该输入包括复数个批量,其中该资料库存放区储存一个或一个以上资料表,用于储存介于该主资讯与该等买主之每个买主和该等批量之每个批量之供给者的该区域资讯之间的关联性,并且其中该等资料表之每个资料表都具有所有资料表共同的该等基础批量识别项之唯一基础批量识别项,用于识别该等批量,并且其中该等级之每级都具有每个基础批量的一额外批号,藉此组合该基础批量识别项与该批号的组合表示该等级中该等批量的历程。22.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该输入是一批量,其中该资料库存放区储存一个或一个以上资料表,用于储存介于该主资讯与该等买主之每个买主和该等供给者的该区域资讯之间的关联性,并且其中该等资料表之每个资料表都具有所有资料表共同的基础批量识别项,用于识别该批量。23.如申请专利范围第22项之系统,其中该区域资讯是RosettaNet资讯。24.如申请专利范围第22项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且每个批量的该等供给者级包括Fab(制造)、Wafer Sort(晶圆分检)、Assembly(装配)及Final Test(积体电路测试)之一级或一级以上。25.申请专利范围第22项之系统,其中会在多个Fab(制造)级之间分隔该等批量之一个或一个以上批量的该等供给者级。26.如申请专利范围第22项之系统,其中会在多个Wafer Sort(晶圆分检)级之间分隔该等晶圆批量之一个或一个以上批量的该等供给者级。27.如申请专利范围第22项之系统,其中会在多个Assembly(装配)级之间分隔该等晶圆批量之一个或一个以上批量的该等供给者级。28.如申请专利范围第22项之系统,其中会在多个Final Test(积体电路测试)级之间分隔该等晶圆批量之一个或一个以上批量的该等供给者级。29.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该输入是一晶圆批量,以及其中该等供给链管理功能提供以该批量资料为基础的批量追踪报告。30.如申请专利范围第29项之系统,其中该批量资料是静态资料。31.如申请专利范围第30项之系统,其中该静态资料包括日期代码(Date Code)、批号(Lot No)、订购日期(Order Date)、订购数量(Order Qty)、采购单号码(PO No)、路线选择(Routing)、供给(Sup)及单价(Unit Price)。32.如申请专利范围第29项之系统,其中该批量资料是动态资料。33.如申请专利范围第32项之系统,其中该动态资料包括日期资讯及数量资讯。34.如申请专利范围第33项之系统,其中该日期资讯包括完成日期(CompletedDate)、保留日期(Hold Date)、收货日期(Received Date)、装运日期(Ship Date)及开始日期(Start Date)。35.如申请专利范围第33项之系统,其中该数量资讯包括完成数量(Completed Qty)、保留数量(Hold Qty)、收货数量(Received Qty)、装运数量(Ship Qty)及开始数量(StartQty)。36.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该输入是一晶圆批量,以及该输出是一晶片产品,并且其中该等供给链管理功能包括一实际成本批量详细报告。37.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该输入是一晶圆批量,以及该输出是一晶片产品,并且其中该等供给链管理功能包括一晶圆现况输出报告。38.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该输入是一晶圆批量,以及该输出是一晶片产品,并且其中该等供给链管理功能包括一成品现况输出报告。39.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该输入是一晶圆批量,以及该输出是一晶片产品,并且其中该等供给链管理功能包括一进行中工作库存报告。40.如申请专利范围第1项与第2项中任一项之系统,其中该等用户端属于半导体制造产业,并且该输入是一晶圆批量,以及该输出是一晶片产品,并且其中该等供给链管理系统功能包括一警示,用于用信号发出该供给链管理系统中的状况。41.如申请专利范围第1项与第2项之任一项之系统,其中该等买主B包含买主B0.B1.…、Bb、…、BB,该等供给者S包含供给者S0.S1.…、Ss、…、Ss,该等级P包括级[P0,0.P0,1.…、P0,N ];[P1,0.…];[…、Pm,n、…];[PM,0 、…、PM,N]。42.如申请专利范围第41项之系统,该等级P之每级都包括最多T个交易T0.T1.…、TT。43.如申请专利范围第42项之系统,其中该等T个交易是订购(ORDER)、进行中工作(WIP)、良率(YIELD)、装运(SHIPMENT)、收货(RECEIVE)、仓储(WAREHOUSE)及付款(PAYMENT)。44.一种适用于多个用户端的供给链管理方法,其中该等用户端包括一个或一个以上买主及复数个供给者,其中该等一个或一个以上买主开立订单给复数个该等供给者,用于透过复数个供给者级处理一输入至一输出,其中该输入是一个或一个以上批量,其中该等用户端都使用该等用户端之每个用户端特有之分散的不同区域资讯,改良特征为,将该等用户端之每个用户端的区域资讯储存于一资料库存放区中,使该等用户端之间的该区域资讯与对应资料互相关联并且构成主资讯,该关联性装置包括所有该等级共同使用的一个或一个以上基础批量识别项,所有该等一个或一个以上基础批量都有一个识别项,执行供给链管理功能,以使用该等基础批量识别项追踪通过该等供给者级的批量。45.一种适用于多个用户端的供给链管理方法,其中该等用户端包括一个或一个以上买主及复数个供给者,其中该等一个或一个以上买主开立订单给该等供给者之一,用于透过复数个供给者级处理一输入至一输出,该等用户端都使用该等用户端之每个用户端特有之分散的不同区域资讯,改良特征为,对应该等用户端之每个用户端的该区域资讯,以提供已对应的资料,执行有关该对应资料的资料完整性处理程序,以改良该对应资料的可靠度,处理该对应资料,以提供已处理资料,将该对应资料及该已处理资料储存为主资讯,存取用以为该等用户端执行供给链管理功能的该主资讯。图式简单说明:图1显示在某种程度上以个别买主为基础组织并且在构成一供给链的多个买主与多个供给者之环境中的复数个供给链管理系统,并且显示适用于多个买主与多个供给者的全球供给链管理系统。图2显示图1所示之全球供给链管理系统的进一步详细图式,其中具有适用于多个买主与多个供给者的多级、多批量处理器。图3显示图1和图2所示之供给链管理系统的详细图式,其中具有典型处理级的详细图式。图4显示图1和图2所示之供给链管理系统内多级、多批量处理单一买主及多个供给者的详细图式。图5显示图4所示之系统的一批量之采购单集的实例。图6显示图4所示之系统的一批量之采购单集的另一实例。图7显示图4所示之系统的一批量之采购单集的另一实例。图8显示图1所示之供给链管理系统内多级、多批量处理多个买主及多个供给者的详细图式。图9显示适用于图1所示之供给链管理系统之电脑系统网路的硬体方块图。图10显示适用于图1所示之供给链管理系统的软体方块图。图11显示关联处理器,用于使用户端之间的输入与输出资讯互相关联,包括图9和图10所示之系统中供给链管理的对应及资料完整性处理。图12显示供给链交易中所有多个供给者分支的实例。图13显示图12所示之实例中的跨供给者错误检查处理。图14显示批量追踪报告的实例。图15显示跨供给者批量追踪实例1。图16显示跨供给者批量追踪实例2。图17显示实际成本-批量详细报告。图18显示采购单逻辑流程,用于建立及接受全面采购单及采购单。图19显示Final Test(积体电路测试)采购单的实例。图20显示图19所示之Final Test(积体电路测试)采购单中呈现为缩图影像之附件的实例。图21显示晶圆现况输出报告的实例。图22显示含封装规划之成品现况输出报告的实例。图23显示进行中工作库存报告的实例。
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