METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT,申请号SG20010000281-传众专利搜索

发明名称	METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号	SG101949(A1)	申请公布日期	2004.02.27
申请号	SG20010000281	申请日期	2001.01.17
申请人	MOTOROLA, INC.	发明人	PHAM, CHUNG V.;HOOPER, PAUL J.;MILLER, MARK A.;ALASPA, ROSS A.;MARSHALL, CASEY
分类号	G01R31/28;G01R31/317;(IPC1-7):G01R31/28;G06F11/00	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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