| 发明名称 |
PATTERN-BASED DEFECT DESCRIPTION METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
SG101970(A1) |
申请公布日期 |
2004.02.27 |
| 申请号 |
SG20010002717 |
申请日期 |
2001.05.09 |
| 申请人 |
SEAGATE TECHNOLOGY LLC |
发明人 |
YIP YING EE;LIM AIK CHUAN;CHNG YONG PENG;CHEOK TIAN CHYE STEVEN;NG WEI LOON |
| 分类号 |
G11B20/18;G11B27/30;(IPC1-7):G11B20/18 |
主分类号 |
G11B20/18 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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