自动测试设备之单晶片Ⅰ负载架构

摘要

一种用以测试积体电路之自动测试设备之主动负载电路(active load circuit)。上述主动负载电路包括：一电流源；一电流吸收(sink)；一个具有分别连接至上述电流源与上述电流吸收之电流源节点与电流吸收节点之电流开关(switching)电路；以及一个利用一差动(differential)电压来控制上述电流开关电路之控制电路，其中上述差动电压被限制振幅并且其极性和一固定参考电压与测试中的元件之一脚位(pin)输出电压之间的电压差相同。