发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 在非挥发性半导体记忆装置中,系分别设置有用来产生不同电压之3个字元线电压产生电路(11a~11c)。由3个不同电压之中,预先设置用以选择1个电压之电压选择电路13。在下层的矽氧化膜(5a)之膜厚以比上层的矽氧化膜(5c)之膜厚薄所形成的ONO膜(5)中,系先选择字元线电压产生电路(11a),并于写入动作之际施加比一般的9V更低之7V的电压,而在上层的矽氧化膜(5c)之膜厚以比下层的矽氧化膜(5a)之膜厚薄所形成的ONO膜(5)中,系先选择字元线电压产生电路(11b),并施加比一般的9V更高之11V的电压。藉此,可得到能令作为资讯之电荷维持稳定之非挥发性半导体记忆装置。
申请公布号 TW200402876 申请公布日期 2004.02.16
申请号 TW091137455 申请日期 2002.12.26
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 大谷顺
分类号 H01L27/115;H01L27/10;H01L29/788;H01L21/8247 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本