| 主权项 |
1.一种初级同步检测装置,应用于分码多工接取系统之细胞搜寻之初级同步码检测,检测来自基地台之一进入信号,该进入信号因频率偏移而具有一载波频率不确定范围,该初级同步检测装置包含:一补偿单元(compensation unit),用于该进入信号之频率补偿与决定该进入信号之取样点之选择方式;一第一交换介面,连接于该补偿单元,具有复数个交换埠,用于将该进入信号输出至复数个次要检测单元;复数个次要检测单元,连接于该第一交换介面,用于检测该进入信号之一初级同步码,其中该初级同步码系用于分辨该进入信号之时槽边界;其中将该进入信号的载波频率不确定范围分成复数个小区域(cell),每个区域中有一次要载波(sub-carrier)频率,该复数个次要载波频率系作为该复数个次要检测单元之参考频率,且切分频率不确定范围为该复数个小区域(cell)称为一分柜过程;一第二交换介面,连接于该复数个次要检测单元,具有复数个交换埠,用于将该进入信号输出;以及一选择单元,连接于该第二交换介面,用于在该复数个次要检测单元之输出中挑选出复数个(N1)个可能的时槽边界作为复数个(N1)候选者。2.依申请专利范围第1项之初级同步检测装置,其中该补偿单元包含:一频率补偿单元,用于该进入信号之相位偏移(phaserotation compensation)补偿与取样频率偏移(clock offsetcompensation)补偿;以及一取样点扰乱器,用于决定该进入信号之取样点之选择方式。3.依申请专利范围第1项之初级同步检测装置,其中该次要检测单元更包含:一初级同步码匹配滤波器,用于匹配并检测该初级同步码;以及一循环缓冲器(circular buffer),连接于该初级同步码匹配滤波器,用于储存来自该初级同步码检测器之检测结果,并继续判断该进入信号较佳之时槽边界。4.依申请专利范围第1项之初级同步检测装置,其中该初级同步检测装置之前端更包含:一类比数位转换单元,用于对一进入信号由类比形式转换成数位形式;一码片匹配滤波单元,连接于该类比数位转换单元,用于匹配该进入信号,并将该进入信号送入该初级同步检测装置。5.依申请专利范围第2项之初级同步检测装置,其中该取样点扰乱器系在该进入信号之数位形式中随机地选择一取样点。6.依申请专利范围第2项之初级同步检测装置,其中该取样点扰乱器系在该进入信号之数位形式中选择一最佳取样点,其中该最佳取样点系在该进入信号之数位形式中具有最大取样値。7.依申请专利范围第1项之初级同步检测装置,其中该进入信号的载波频率不确定范围系指,由该进入信号之最大可能频率与最小可能频率之间,其中该载波频率不确定范围系由于用户装置之晶体震荡器之频率不稳定所造成。8.依申请专利范围第4项之初级同步检测装置,其中该复数个小区域(cell)系以相同的间隔等分该进入信号的载波频率不确定范围。9.依申请专利范围第5项之初级同步检测装置,其中该次要载波频率系位于该复数个小区域(cell)之中间。10.依申请专利范围第1项之初级同步检测装置,其中该复数个初级同步码检测器之数目系由该进入信号之载波频率不确定范围所切分之复数个小区域之数目来决定。11.一种初级同步检测装置,应用于分码多工接取系统之细胞搜寻之初级同步码同步检测,检测来自基地台之一进入信号,该进入信号因频率偏移而具有一载波频率不确定范围,该初级同步检测装置包含:一取样点扰乱器,用于决定该进入信号之取样点之选择方式;一初级同步码匹配滤波器,用于匹配并检测该初级同步码;一取样频率偏移补偿单元(clock compensated unit),用于该进入信号之取样频率偏移补偿;一第一交换介面,连接于该取样频率偏移补偿单元,具有复数个交换埠,用于将该进入信号输出至复数个循环缓冲器;复数个循环缓冲器(circular buffer),连接于该第一交换介面,用于储存来自该初级同步码检测器之检测结果,并继续判断该进入信号较佳之时槽边界;其中将该进入信号的载波频率不确定范围分成复数个小区域(cell),每个区域中有一次要载波(sub-carrier)频率,该复数个次要载波频率系作为该复数个循环缓冲器之参考频率,且切分频率不确定范围为该复数个小区域(cell)称为一分柜过程;一第二交换介面,连接于该复数个循环缓冲器,具有复数个交换埠,用于将该进入信号输出;一选择单元,连接于该第二交换介面,用于在该复数个循环缓冲器之输出中挑选出复数个(N1)个可能的时槽边界作为复数个(N1)候选者。12.依申请专利范围第11项之初级同步检测装置,其中该初级同步检测装置之前端更包含:一类比数位转换单元,用于对一进入之类比信号转换成数位信号;一码片匹配滤波单元,连接于该类比数位转换单元,用于匹配该进入信号,并将该进入信号送入该初级同步检测装置。13.依申请专利范围第11项之初级同步检测装置,其中该取样点扰乱器系在该进入信号之数位形式中随机地选择一取样点。14.依申请专利范围第11项之初级同步检测装置,其中该取样点扰乱器系在该进入信号之数位形式中选择一最佳取样点,其中该最佳取样点系在该进入信号之数位形式中具有最大取样値。15.依申请专利范围第11项之初级同步检测装置,其中该进入信号的载波频率不确定范围系指由该进入信号之最大可能频率与最小可能频率之间,其中该载波频率不确定范围系由于用户装置之晶体震荡器之频率不稳定所造成。16.依申请专利范围第15项之初级同步检测装置,其中该复数个小区域(cell)系以相同的间隔等分该进入信号的载波频率不确定范围。17.依申请专利范围第16项之初级同步检测装置,其中该次要载波频率系位于该复数个小区域(cell)之中间。18.依申请专利范围第11项之初级同步检测装置,其中该复数个循环缓冲器之数目系由该进入信号之载波频率不确定范围所切分之复数个小区域之数目来决定。19.依申请专利范围第1项与第11项之初级同步检测装置,其中该初级同步检测装置系使用于宽频分码多工接取/分频双工系统。20.依申请专利范围第1项与第11项之初级同步检测装置,其中该初级同步检测装置系使用于行动装置与无线个人数位化助理(PDA)系统。图式简单说明:第1图系显示一用于第三代合作计画(3GPP)之宽频分码多工接取/分频多工系统之码框结构图。第2(a)图与第2(b)图显示,频率偏移造成的取样点飘移效应下,信号位准降低与码片间干扰增加的结果。第3图系显示根据本发明第一实施例之一种初级同步检测装置之结构图,该初级同步检测装置系使用全补偿结构(fully compensated structure)。第4图系显示第三图之次要检测单元之一实施例之结构图。第5图系显示根据本发明第二实施例之一种初级同步检测装置之结构图,该初级同步检测装置系使用部分补偿结构(partially compensated structure)。第6图系显示第三图与第五图之初级同步检测装置之前端结构图。第7(a)图系显示根据本发明实施例之一种分柜方法之示意图。第7(b)图系显示根据本发明实施例之一种分柜方法之示意图。第8图系显示在频率偏移效应f=24kHz下,不同分柜数下之细胞搜寻方法之特性图。(几何因子(GeometryFactor)G=6dB)第9图系显示在频率偏移效应f=24kHz下,比较不同候选者数目之细胞搜寻方法之特性图。 |
