| 发明名称 |
Quality control methods for microarray production |
| 摘要 |
In one embodiment of the invention, surface properties of a microarray are examined to detect manufacturing failure. The surface properties may be determined using FTIR.
|
| 申请公布号 |
US2004023247(A1) |
申请公布日期 |
2004.02.05 |
| 申请号 |
US20020313182 |
申请日期 |
2002.12.05 |
| 申请人 |
AFFYMETRIX, INC. |
发明人 |
XU GUANGYU;GOLDBERG MARTIN |
| 分类号 |
B01J19/00;B05D3/00;C12Q1/68;C40B40/06;C40B40/10;C40B40/12;C40B50/14;C40B60/14;(IPC1-7):C12Q1/68 |
主分类号 |
B01J19/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
