发明名称 黏着片带及黏着片带用基材
摘要 本发明提供一种黏着片带,包括基材及至少于基材一侧所形成之黏着层,其中基材包括下述成分A、成分B、及成分C:成分A:分子骨架中具有羰基氧原子之热塑性树脂成分B:含有乙烯成分及丙烯成分之聚合物掺合物成分C:经矽烷偶合剂表面处理之无机金属化合物但实质上不含卤素原子。本发明之黏着片带及黏着片带用基材于焚烧时不会产生戴奥辛或有毒气体,具有优异之挠性、耐热变形性、耐火性、及耐表面白化性,且表现适合之拉伸性及机械强度。
申请公布号 TW574340 申请公布日期 2004.02.01
申请号 TW090103878 申请日期 2001.02.21
申请人 日东电工股份有限公司 发明人 中川善夫;石黑繁树;夏目雅好;高田信一;大山高辉
分类号 C09J7/02 主分类号 C09J7/02
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路八十号六楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路八十号六楼
主权项 1.一种黏着片带,包括基材及至少于基材一侧所形成之黏着层,其中基材包括下述成分A、成分B、及成分C,但实质上不含卤素原子:成分A:分子骨架中具有羰基氧原子之热塑性树脂;成分B:含有乙烯成分及丙烯成分之聚合物掺合物;以及成分C:经矽烷偶合剂表面处理之无机金属化合物,其中,成分A及成分B系以1:9至8:2重量比(A:B)混合,且成分C之量系以每100重量分成分A及成分B总重量之80至200重量分添加。2.如申请专利范围第1项之黏着片带,其中成分B具有80℃动态存储模数(E')不小于40MPa及小于180MPa,120℃动态存储模数(E')不小于12MPa及小于70MPa。3.如申请专利范围第1项之黏着片带,其中成分B具有23℃动态存储模数(E')不小于200MPa及小于400MPa。4.如申请专利范围第1项之黏着片带,其中成分A为熔点不大于120℃之乙烯共聚物或其金属盐,系使乙烯酯化合物、或,-不饱和羧酸或其衍生物、或乙烯酯化合物与,-不饱和羧酸或其衍生物聚合所得。5.如申请专利范围第1项之黏着片带,其中成分C为经每无机金属化合物重量之0.1至5.0重量%矽烷偶合剂表面处理之无机金属化合物。6.如申请专利范围第1项之黏着片带,其具有80℃动态存储模数(E')不小于25MPa,120℃动态存储模数(E')不小于10MPa。7.如申请专利范围第1项之黏着片带,其中基材于其成形制程期间或成形制程之后并未交联。8.一种黏着片带所用之基材,包括下述成分A、成分B、及成分C,但实质上不含卤素原子:成分A:分子骨架中具有羰基氧原子之热塑性树脂;成分B:含有乙烯成分及丙烯成分之聚合物掺合物;成分C:经矽烷偶合剂表面处理之无机金属化合物,其中,成分A及成分B系以1:9至8:2重量比(A:B)混合,且成分C之量系以每100重量分成分A及成分B总重量之80至200重量分添加。9.如申请专利范围第8项之基材,其中成分B具有80℃动态存储模数(E')不小于40MPa及小于180MPa,120℃动态存储模数(E')不小于12MPa及小于70MPa。10.如申请专利范围第8项之基材,其中成分B具有23℃动态存储模数(E')不小于200MPa及小于400MPa。11.如申请专利范围第8项之基材,其中成分A为熔点不大于120℃之乙烯共聚物或其金属盐,系使乙烯酯化合物、或,-不饱和羧酸或其衍生物、或乙烯酯化合物与,-不饱和羧酸或其衍生物聚合所得。12.如申请专利范围第8项之基材,其中成分C为经每无机金属化合物重量之0.1至5.0重量%矽烷偶合剂表面处理之无机金属化合物。13.如申请专利范围第8项之基材,其具有80℃动态存储模数(E')不小于25MPa,120℃动态存储模数(E')不小于10MPa。14.如申请专利范围第8项之基材,于其成形制程期间或成形制程之后并未交联。图式简单说明:第1(a)图及第1(b)图表示评估黏着片带(基材)热变形性之方法,其中第1(a)图为试验样品之侧视图,第1(b)图为试验装置之侧视图,1为圆柱,2为装载板,2a为凸面,3为平行板,10试验样品,T为黏着片带。第2图为表示拉伸后基材表面状态之扫描式电子显微镜相片,其中第2(a)图表示比较例12(白化),第2(b)图表示实施例1(未白化)。
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