发明名称 | 磁性记录介质 | ||
摘要 | 本发明是在用芳香族聚酰胺或芳香族聚酰亚胺制成的片基一面涂敷磁性层的磁性记录介质。本发明是关于以满足以下指标为特征的磁性记录介质;其片基涂敷磁性层一面的表面粗大突起个数H<SUB>2</SUB>、非磁性层一面的表面粗大突起个数H<SUB>3</SUB>满足:H<SUB>2</SUB>≤502≤H<SUB>3</SUB>≤100同时,该片基在20℃下的至少一个方向杨氏拉伸模量E<SUB>20</SUB>和在100℃下的同方向杨氏拉伸模量E<SUB>100</SUB>满足:E<SUB>20</SUB>≥800kg/mm<SUP>2</SUP>0.5≤E<SUB>100</SUB>/E<SUB>20</SUB>。本发明提供在严酷环境下(特别是高温下)具有优异的耐久性、运行特性和输出特性的磁性记录介质。 | ||
申请公布号 | CN1136545C | 申请公布日期 | 2004.01.28 |
申请号 | CN95190579.1 | 申请日期 | 1995.06.21 |
申请人 | 东丽株式会社 | 发明人 | 佃明光;米山和祐;伊藤伸明 |
分类号 | G11B5/73 | 主分类号 | G11B5/73 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 卢新华;杨丽琴 |
主权项 | 1.一种磁性记录介质,是在用芳香族聚酰胺或芳香族聚酰亚胺制成的片基一面涂敷磁性层,其特征是,其片基的涂敷磁性层一面的通过多重干涉仪观察的具有二层环以上的表面粗大突起个数H2、非磁性层一面的通过多重干涉仪观察的具有三层环以上的表面粗大突起个数H3满足: H2≤50 2≤H3≤100同时,该片基在20℃下的至少一个方向杨氏拉伸模量E20和在100℃下的同方向的杨氏拉伸模量E100满足: E20≥800kg/mm2 0.5≤E100/E20。 | ||
地址 | 日本东京 |