发明名称 检查准直仪之装置
摘要 一种检查准直仪之装置,该准直仪包括有一设置有传输光学信号之光纤的柔引线、与设置成与柔引线(pigtail)同轴之梯度指标(gradient index)GRIN镜,一玻璃管支撑与收纳该柔引线与该GRIN镜,及保护该玻璃管之一金属套筒,该检查准直仪之装置包括有一检查桌。一夹持部,其设置于该检查桌,夹持待测之准直仪。一第一摄影机,其设置于夹持部之上方有一轴垂直于该准直仪长轴,同时沿准直仪之长轴拍摄该准直仪。一第二摄影机,其设置成在检查桌上与该准直仪同轴,与准直仪垂直方向拍摄该摄影机;一显示部,其连接第一摄影机与第二摄影机,及显示由第一摄影机与第二摄影机传来之影像。依此装置结构,设置该检查准直仪之装置可以有效检查准直仪,如此增进生产准直仪之生产可靠度。
申请公布号 TW569039 申请公布日期 2004.01.01
申请号 TW091117639 申请日期 2002.08.06
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 黄冕淳;宣烘锡;金炳坤;金明云;李锡灿
分类号 G02B27/30 主分类号 G02B27/30
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路二段一○○号七楼之一;萧锡清 台北市中正区罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种检查准直仪之装置,该准直仪包括有设置有一传输光学信号之一光纤的一柔引线、与设置成与该柔引线同轴之一梯度指标(GRIN)镜,一玻璃管其支撑与收纳该柔引线与该梯度指标镜,及用以保护该玻璃管之一金属套筒,该检查准直仪之装置包括有:一检查桌;一夹持部,其设置于该检查桌,及夹持待测之准直仪;一第一摄影机,其设置于该夹持部之上方,有一轴垂直于该准直仪长轴,同时沿该准直仪之长轴拍摄该准直仪;一第二摄影机,其设置成与该准直仪同轴,与该准直仪垂直方向拍摄该准直仪;以及一显示部,其连接该第一摄影机与该第二摄影机,及显示由该第一摄影机与该第二摄影机传来影像。2.如申请专利范围第1项所述之检查准直仪之装置,其中该影像,其由该第二摄影机所拍摄及显示于该显示部,用以显示该梯度指标镜与该柔引线间之一角对准。3.如申请专利范围第1项所述之检查准直仪之装置,其中该玻璃管之一端与该金属套筒之一端以一环氧树脂互相紧密结合在一起,以及该影像,其由该第一摄影机拍摄及显示于显示部,用以显示该梯度指标镜之至少一长度,及该环氧树脂之量与形状。4.如申请专利范围第3项所述之检查准直仪之装置,其中该影像,其由该第二摄影机所拍摄及显示于该显示部,用以显示该梯度指标镜与该柔引线间之一角对准。5.如申请专利范围第1项所述之检查准直仪之装置,更包括:一光源,其连接到该光纤及发射一光学信号到该光纤;以及一光学信号感应器,其设置与该准直仪同轴,可接受由该光源发出,经过该准直仪之该光学信号。6.如申请专利范围第5项所述之检查准直仪之装置,其中该光学信号感应器可连接之显示部,一影像,其由该光学信号感应器所摄取及显示于该显示部,用以显示该梯度指标镜与该架引线中间之点对准。7.如申请专利范围第5项所述之检查准直仪之装置,更包括;一滑动块,其用以滑动支持该光学信号感应器及该第二摄影机;一驱动部,其可平滑移动该滑动块,使得该光学信号感应器及该第二摄影机可交替对准该准直仪轴;以及一轨道,其可导引滑动块之移动。8.如申请专利范围第1项所述之检查准直仪之装置,更包括:一控制部,其控制该第一摄影机及该第二摄影机,该显示部。9.如申请专利范围第5项所述之检查准直仪之装置,更包括:一控制部,其控制该第一摄影机及该第二摄影机,该显示部,该光源,该光学信号感应器。10.如申请专利范围第7项所述之检查准直仪之装置,更包括:一控制部,其控制该第一摄影机及该第二摄影机,该显示部,该光源,该光学信号感应器,及该驱动部。11.一种检查准直仪之装置,该准直仪包括有设置有一传输光学信号之一光纤的一柔引线、与设置成与该柔引线同轴之一梯度指标镜,一玻璃管其支撑与收纳该柔引线与该梯度指标镜,及用以保护该玻璃管之一金属套筒,该检查准直仪之装置包括有:一检查桌;一夹持部,其设置于该检查桌,及夹持待测之准直仪;一第一摄影机,其设置于该夹持部之附近区域,有一轴垂直于该准直仪长轴,同时沿该准直仪之长轴,产生该准直仪之第一影像;一第二摄影机,其设置于该夹持部之附近区域,有一轴设置成与该准直仪排成直线,与该准直仪垂直方向,产生该准直仪之第二影像;以及一控制部,其连接至该第一摄影机及该第二摄影机,及依据该第一影像与该第二影像,评估该准直仪之物理特性是否超过一预设基准値。12.如申请专利范围第11项所述之检查准直仪之装置,其中至少有一该物理特性可被评估,其为该梯度指标镜突出于该玻璃管之一长度,或者为在内,该架引线系紧于该玻璃管之附近区域之环氧树脂的一量与一形状。13.如申请专利范围第11项所述之检查准直仪之装置,其中至少有一该物理特性可被评估,其为该梯度指标镜与该柔引线间之一角对准。14.如申请专利范围第11项所述之检查准直仪之装置,更包括:一光源其提供一光,该光用以通过该准直仪;一光学信号感应器,与该光源合作,其设置与该准直仪成同轴,用以检查该准直仪之点对准;以及一显示部,其显示复数个影像,系相对应为由该第一摄影机及该第二摄影机所传输之影像,视为该准直仪检查之结果。15.如申请专利范围第14项所述之检查准直仪之装置,更包括;一滑动块,其用以滑动支持该光学信号感应器及该第二摄影机;一驱动部,其可平滑移动该滑动块,使得该光学信号感应器及该第二摄影机可交替对准该准直仪轴;以及一轨道,其可导引滑动块之移动。16.如申请专利范围第11项所述之检查准直仪之装置,其中该控制部控制该第一摄影机及该第二摄影机,该第一摄影机有一轴垂直于该准直仪长轴,同时沿该准直仪之长轴拍摄该准直仪,及该第二摄影机,其设置成在该检查桌与该准直仪同轴,与拍摄该准直仪。17.一种检查准直仪之方法,该准直仪包括有设置有一传输光学信号之一光纤的一柔引线、与设置成与该柔引线同轴之一梯度指标镜,一玻璃管其支撑与收纳该柔引线与该梯度指标镜,及用以保护该玻璃管之一金属套筒,该检查准直仪之方法包括有:夹持待测之准直仪;提供沿该准直仪之长轴一第一影像,其系使用有一轴垂直于该准直仪长轴之一第一摄影机;对准一第二摄影机与该准直仪;提供垂直该准直仪的该准直仪之第二影像,其在该第二摄影机完成对准后,使用该第二摄影机;以及依据该第一影像与该第二影像,评估该准直仪之物理特性是否超过一预设基准値。18.一种检查准直仪之方法,该准直仪包括有设置有一传输光学信号之一光纤的一柔引线、与设置成与该柔引线同轴之一梯度指标镜,一玻璃管其支撑与收纳该柔引线与该梯度指标镜,及用以保护该玻璃管之一金属套筒,该检查准直仪之方法包括有:夹持待测之准直仪;提供沿该准直仪之长轴一第一影像,其系使用有一轴垂直于该准直仪长轴之一第一摄影机;提供垂直该准直仪的该准直仪之第二影像,使用该第二摄影机,其对准该准直仪之一轴;以及显示复数个影像,其相对应于该第一影像与该第二影像,评估该准直仪之物理特性是否超过一预设基准値。19.如申请专利范围第18项所述之检查准直仪之方法,更包括:感应该角对准,其位于该梯度指标镜与该柔引线中间,系由接受由光源通过该准直仪后之该光学信号。20.如申请专利范围第18项所述之检查准直仪之方法,更包括:滑行移动该光学信号感应器或该第二摄影机进入与离开一位置;其使得该光学信号感应器及该第二摄影机可交替对准该准直仪,以便于个别提供该第二影像及该角对准之该感应。21.如申请专利范围第18项所述之检查准直仪之方法,其中该光学信号感应器及该第二摄影机有轴系相互互相平行。22.如申请专利范围第16项所述之检查准直仪之装置,其中该控制部比较相对应于置放该梯度指标镜与该柔引线之影像,用以决定置放该梯度指标镜与该柔引线是否在一预设范围内。23.如申请专利范围第19项所述之检查准直仪之方法,其中该显示包括一点对准,其位于该梯度指标镜与该柔引线中间。24.如申请专利范围第19项所述之检查准直仪之方法,其中由该光学信号感应器所摄取,同时显示于该显示部之该点,使用一参考点之一半径与一形状与其相比较。图式简单说明:第1图绘示为一准直仪之侧视图;第2图绘示为依据本发明一实施例之检查准直仪之装置示意图;第3A图绘示为第2图之第一摄影机拍摄准直仪之概要示意图;第3B图绘示为第3A图所拍摄之影像显示在显示部;第4A图绘示为第2图之第二摄影机拍摄准直仪之概要示意图;第4B图绘示为第4A图所拍摄之影像显示在显示部;第5A图绘示为第2图之光学信号感应器检查准直仪之概要示意图;第5B图绘示为第5A图检查之影像显示在显示部;以及第6图绘示为依据本发明另一实施例之检查准直仪之装置之控制方块图。
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