| 发明名称 |
SYSTEM AND METHOD OF MEASURING LOW IMPEDANCES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IL155930(D0) |
申请公布日期 |
2003.12.23 |
| 申请号 |
IL20030155930 |
申请日期 |
2003.05.15 |
| 申请人 |
HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY L.P. |
发明人 |
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| 分类号 |
G01R27/02;G01R27/08;G01R27/16;G01R27/20;G01R31/30;G06F11/24;(IPC1-7):G01R |
主分类号 |
G01R27/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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