| 主权项 |
1.一种测试用探针装置,其设有一可配合组装于测试治具之定位套筒,此定位套筒于其接近上开口之外周设有测试治具用之扣紧突缘;一含有测试针端之针轴则可配合一弹性元件直接组装于该定位套筒设定直径内孔中,并使其局部长度由定位套筒上开口外露;该弹性元件一端组合于针轴末端,另端则压靠于定位套筒内底面;其特征系在于:该定位套筒至少于其外周面设有一用以使该弹性元件成弹性受压状态及限制针轴轴向位移之加工凹部。2.如申请专利范围第1项所述测试用探针装置,其中,该弹性元件设有一朝向针轴末端之接合圈部,并由此接合圈部依序向下设有一用以配合第一加工凹部定位之承靠圈部、一与定位套筒设定直径内孔相配之引导圈部、一延伸圈部及一压靠于定位套筒内底面底圈部所共同构成。3.如申请专利范围第2项所述测试用探针装置,其中,该弹性元件以金属线材制成单体式。4.如申请专利范围第2项所述测试用探针装置,其中,针轴末端设有一略小于其主轴杆直径之缩小杆部,该缩小杆部末端设有供组合于弹性元件接合圈部含有凹颈部之弧勾端部。5.如申请专利范围第1项所述测试用探针装置,其中,加工凹部之压入深度配合弹性元件相关位置圈径及针轴主轴杆加以选择。6.如申请专利范围第2项所述测试用探针装置,其中,该弹性元件延伸圈部直径设为小于引导圈部及底圈部。图式简单说明:第1图系习用探针装置局部剖视立体图;第2图系本创作较佳实施例立体图;第3图系第2图之大部元件分解图;第4图系第3图针轴与弹性元件之进一步分解图;以及第5图显示第2图之断面剖视图。 |
