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Eine Vorrichtung zum Testen von in einem Muster angeordnete Kontaktstellen (3) aufweisenden Leiterplatten (1), mit einer parallel zur Leiterplatte (1) angeordneten und gegen diese bewegbaren Nadelplatte (4), welche mit ihren Spitzen im Muster der Kontaktstellen (3) angeordnete feststehende Nadeln (6) trägt, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Nadeln (6) mit ihren Spitzen in Richtung (x, y) der Ebene der Nadelplatte (4) verstellbar angeordnet sind.
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