Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten, und Prüfsonde für diese Vorrichtung und dieses Verfahren

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten sowie eine Prüfsonde für diese Vorrichtung und dieses Verfahren. DOLLAR A Erfindungsgemäß werden die Kontaktspitzen eines Prüffingers eines Fingertesters während des Prüfvorganges mittels einer optischen Detektionseinrichtung überwacht und deren Bewegung zumindest beim Anfahren eines Teils der Leiterplattentestpunkte einer zu testenden Leiterplatte mittels des von der optischen Detektionseinrichtung ermittelten Ergebnisses derart korrigiert, dass die Kontaktspitze sicher den jeweiligen Leiterplattentestpunkt kontaktiert. Die sich hierbei ergebenden Korrekturdaten werden zum Berechnen von Kalibrierdaten verwendet.