发明名称 | 能有效进行氢钝化的半导体器件的制造方法 | ||
摘要 | 一种制造半导体器件的方法,包含的步骤有:在硅基片上热生长由氧化硅构成的第一绝缘层(13);在第一绝缘层上形成栅电极(14);在栅电极上形成第二绝缘层(16);在第二绝缘层上形成电容器下电极(21);在电容器下电极上形成电容器介电层(22);在电容器介电层上形成一电容器上电极(23);在电容器上电极上形成第三绝缘层(24);在第三绝缘层形成之后,以第一温度进行氢钝化;在氢钝化完成之后,在第三绝缘层上形成第一金属布线层(31);以比第一温度低的第二温度,在第一金属布线层上形成第四绝缘层(32);在第四绝缘层上形成第二金属布线层(41);且以比第一温度低的第三温度,在第二金属布线层上形成钝化层(42)。 | ||
申请公布号 | CN1127125C | 申请公布日期 | 2003.11.05 |
申请号 | CN99109234.1 | 申请日期 | 1999.06.23 |
申请人 | 日本电气株式会社;恩益禧电子股份有限公司 | 发明人 | 中岛龙史 |
分类号 | H01L21/324;H01L21/8242 | 主分类号 | H01L21/324 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱进桂 |
主权项 | 1.一种制造半导体器件的方法,其中包含的步骤有:在一硅基片上热生长由氧化硅构成的第一绝缘层(13);在所述的第一绝缘层上形成一栅电极(14);在所述的栅电极上形成一第二绝缘层(16);在所述的第二绝缘层上形成一电容器下电极(21);在所述的电容器下电极上形成一电容器介电层(22);在所述的电容器介电层上形成一电容器上电极(23);在所述的电容器上电极上形成一第三绝缘层(24);在所述的第三绝缘层形成之后,以一第一温度进行氢钝化;在所述的氢钝化完成之后,在所述的第三绝缘层上形成一第一金属布线层(31);以比所述的第一温度低的第二温度,在所述的第一金属布线层上形成一第四绝缘层(32);在所述的第四绝缘层上形成一第二金属布线层(41);且以比所述的第一温度低的一第三温度,在所述的第二金属布线层上形成一钝化层(42)。 | ||
地址 | 日本东京都 |