发明名称 能有效进行氢钝化的半导体器件的制造方法
摘要 一种制造半导体器件的方法,包含的步骤有:在硅基片上热生长由氧化硅构成的第一绝缘层(13);在第一绝缘层上形成栅电极(14);在栅电极上形成第二绝缘层(16);在第二绝缘层上形成电容器下电极(21);在电容器下电极上形成电容器介电层(22);在电容器介电层上形成一电容器上电极(23);在电容器上电极上形成第三绝缘层(24);在第三绝缘层形成之后,以第一温度进行氢钝化;在氢钝化完成之后,在第三绝缘层上形成第一金属布线层(31);以比第一温度低的第二温度,在第一金属布线层上形成第四绝缘层(32);在第四绝缘层上形成第二金属布线层(41);且以比第一温度低的第三温度,在第二金属布线层上形成钝化层(42)。
申请公布号 CN1127125C 申请公布日期 2003.11.05
申请号 CN99109234.1 申请日期 1999.06.23
申请人 日本电气株式会社;恩益禧电子股份有限公司 发明人 中岛龙史
分类号 H01L21/324;H01L21/8242 主分类号 H01L21/324
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 朱进桂
主权项 1.一种制造半导体器件的方法,其中包含的步骤有:在一硅基片上热生长由氧化硅构成的第一绝缘层(13);在所述的第一绝缘层上形成一栅电极(14);在所述的栅电极上形成一第二绝缘层(16);在所述的第二绝缘层上形成一电容器下电极(21);在所述的电容器下电极上形成一电容器介电层(22);在所述的电容器介电层上形成一电容器上电极(23);在所述的电容器上电极上形成一第三绝缘层(24);在所述的第三绝缘层形成之后,以一第一温度进行氢钝化;在所述的氢钝化完成之后,在所述的第三绝缘层上形成一第一金属布线层(31);以比所述的第一温度低的第二温度,在所述的第一金属布线层上形成一第四绝缘层(32);在所述的第四绝缘层上形成一第二金属布线层(41);且以比所述的第一温度低的一第三温度,在所述的第二金属布线层上形成一钝化层(42)。
地址 日本东京都