发明名称 | 用于薄膜基测定的分析装置 | ||
摘要 | 本文描述了制作分析测定装置的方法和使用分析测定如免疫测定中的装置的方法。分析测定装置包括:一个不透液的上支持层(10),该上支持层限定出一个环绕一开口(11)的边缘(12);一个靠近上支持层(10)的多孔反应膜(13),从而反应膜(13)的上表面(14)的一部分和边缘(12)限定出一个试样收集孔(11)。反应膜(13)的上表面(14)通过不溶于水的粘结剂(19)与上支持层(10)的下表面密封隔绝开,所述粘结剂在其间形成了一个不透液的密封。一个吸收体(15)靠近反应膜(13)的下表面并与之液体连通。该分析装置被用于检验在可能含靶物质的液样中是否存在可结合的靶物质。 | ||
申请公布号 | CN1125983C | 申请公布日期 | 2003.10.29 |
申请号 | CN98804585.0 | 申请日期 | 1998.03.18 |
申请人 | E-Y实验室公司 | 发明人 | 艾伯特·E·朱 |
分类号 | G01N33/50 | 主分类号 | G01N33/50 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 张兆东 |
主权项 | 1.一种用于在可能含有靶物质的液样中检验是否存在该可结合的靶物质的测定法的分析装置,它包括:(a)一个不透液的上支持层,它具有一个上表面和一个下表面,该上支持层限定出一个环绕一开口的边缘;(b)一个多孔反应膜,它具有一个上表面和一个下表面,其中所述上表面靠近所述上支持层,所述反应膜上表面的一部分和所述边缘限定出一个试样收集孔,所述反应膜上表面通过不溶于水的粘结剂与所述上支持层的下表面密封隔绝开,从而在其间形成了一个不透液的密封层;以及(c)一个吸收体,它具有一个上表面和一个下表面,其中该吸收体的上表面靠近反应膜的下表面并与之液体连通。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚 |