发明名称 |
Plasmaätzen von Ir und PZT unter Verwendung einer Hartmaske und einer chemischen Zusammensetzung aus CL¶2¶/N¶2¶/O¶2¶ und CL¶2¶/CHF¶3¶/O¶2¶ |
摘要 |
Bei den Verfahren zum Ätzen von PZT und/oder Bilden eines ferroelektrischen Kondensators mit Ir/IrOx-Elektroden und einer PZT-ferroelektrischen-Schicht wird eine titanhaltige Hartmaske, ein Chlor-/Sauerstoff-basiertes Plasma und ein heißes Substrat, das typischerweise etwa 350 DEG C mißt, verwendet. Die Prozesse fügen eine fluorhaltige Verbindung wie CHF¶3¶ zum Chlor-/Sauerstoff-basierten Plasma zum Ätzen der PZT-Schicht hinzu und fügen Stickstoff hinzu, um die Seitenwandprofile zu verbessern, wenn die Ir-Schichten geätzt werden. Die Chlor-/Sauerstoff-basierten Plasmen liefern eine gute Selektivität bei hohen Ätzraten für die Ir- und PZT-Schichten und niedrige Ätzraten für die Hartmaske.
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申请公布号 |
DE10256964(A1) |
申请公布日期 |
2003.10.16 |
申请号 |
DE20021056964 |
申请日期 |
2002.12.05 |
申请人 |
AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) |
发明人 |
YING, CHENTSAU;SAKODA, TOMOYUKI;CHI, CHIU |
分类号 |
H01L21/3065;H01L21/02;H01L21/311;H01L21/3213;H01L21/768;H01L21/8246;H01L27/105;(IPC1-7):H01L21/823 |
主分类号 |
H01L21/3065 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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