| 发明名称 |
Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwzijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe. |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
NL1020327(C2) |
申请公布日期 |
2003.10.13 |
| 申请号 |
NL20021020327 |
申请日期 |
2002.04.08 |
| 申请人 |
STICHTING VOOR DE TECHNISCHE WETENSCHAPPEN |
发明人 |
GAVIN NICHOLAS PHILLIPS;LEON ABELMANN;JACOBUS CHRISTIAAN LODDER |
| 分类号 |
G01Q60/08;G01Q60/56;G01R33/038;(IPC1-7):G01B7/34;G01R33/02;G12B21/10 |
主分类号 |
G01Q60/08 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
