发明名称 清除晶圆背面复晶矽的制造方法
摘要 一种清除晶圆背面复晶矽的制造方法,适用于半导体积体电路制程,包括下列步骤:首先提供一矽基底,其上形成有该积体电路的主体以及用于平坦化目的之一氧化物层,接着利用下流式电浆蚀刻法,去除该矽基底之晶圆背面的一复晶矽层,以及最后回蚀刻该氧化物层。本发明使用简单的步骤,就可轻易清除晶圆背面的复晶矽层,以避免产生污染源。
申请公布号 TW369677 申请公布日期 1999.09.11
申请号 TW085105097 申请日期 1996.04.29
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 简荣吾
分类号 H01L21/30 主分类号 H01L21/30
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种形成焊料接点球供一球栅阵列半导体装置之方法,包含下列步骤:形成一片焊料,以形成一阵列之焊料预型片;将预型片之阵列置于一基片,焊球将行在其上电连接至接点区域;使预型片对准,在一接点区域各一;以及将基片及预型片加热,以导使焊料回流,致使每一预型片之回流焊料之表面张力在一接点区域形成一焊球。2.根据申请专利范围第1项之方法,其中每一焊球之容积藉控制焊料形之几何结构予以控制。3.根据申请专利范围第1项之方法,其中一阵列中之每一焊料预型片为与阵列中之其他预型片相同尺寸。4.根据申请专利范围第1项之方法,其中每一预型片藉凸片接合至阵列中之其他预型片,并且每一凸片有一凹痕部份延伸通过凸片。5.根据申请专利范围第1项之方法,其中每一预型片藉凸片连接至其他预型片,并且每一焊球系由预型片中之焊料及靠近预型片之凸片之一部份所构成。6.根据申请专利范围第1项之方法,包括使预型片在接点区域对准前,施加一种焊料熔剂至接点区域之步骤。7.一种形成焊料接点球供一球栅阵列半导体装置之方法,包含下列步骤:形成一片焊料,以形成一阵列之焊料预型片,阵列中之每一预型片藉凸片互相连接至阵列中之至少二其他预型片;将预型片之阵列置于一基片,焊球将行在其上电连接至接点区域;使预型片对准,在一接点区域各一;以及将基片及预型片加热,以导使焊料回流,致使每一预型片之回流焊料之表面张力在一接点区域形成一焊球。8.根据申请专利范围第7项之方法,其中每一焊球之容积藉控制焊料形之几何结构予以控制。9.根据申请专利范围第7项之方法,其中一阵列中之每一焊料预型片为与阵列中之其他预型片相同尺寸。10.根据申请专利范围第7项之方法,其中每一预型片藉凸片接合至阵列中之其他预型片,并且每一凸片有一凹痕部份延伸通过凸片。11.根据申请专利范围第7项之方法,其中每一预型片藉凸片连接至其他预型片,并且每一焊球系由预型片中之焊料及靠近预型片之凸片之一部份所构成。12.根据申请专利范围第7项之方法,包括使预型片在接点区域对准前,施加一种焊料熔剂至接点区域之步骤。图式简单说明:第一图示一有球栅阵列接点之半导体装置。第二图示一用以作成预型片之焊片。第三图示一自一焊片所作成之预型片。第四图为焊料预型片之等角投影图。第五图为焊料预型片之第二实施例。第六图示对准在一基片上之预型片。第七图示自预型片所形成之焊球。第八图为形成焊球之工序之流程图。
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