发明名称 分子筛膜强度的表征方法
摘要 本发明涉及分子筛膜强度的表征方法,主要解决以往文献中未涉及分子筛膜强度的测定,从而对制得的分子筛膜能否形成优良性能缺乏监控的问题。本发明通过采用将制得的分子筛膜置于超声波束中清洗,然后测得有效相对附着百分比和减重百分比的技术方案,较好地解决了该问题,可用于分子筛膜的工业制备中。
申请公布号 CN1443596A 申请公布日期 2003.09.24
申请号 CN02111015.8 申请日期 2002.03.13
申请人 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司上海石油化工研究院 发明人 陈庆龄;张延风;许中强;卢冠忠
分类号 B01D71/02;G01N33/00 主分类号 B01D71/02
代理机构 上海浦东良风专利代理有限责任公司 代理人 陈志良
主权项 1、一种分子筛膜强度的表征方法,包括以下步骤:a)先将重量为m1的载体置于反应釜中进行分子筛晶化反应,在载体上生长出均匀的分子筛膜,然后经干燥得重量为m2的含分子筛膜载体;b)将重量为m2的含分子筛膜载体置于超声波束中清洗后,经干燥后得重量为m3的含分子筛膜载体,其中有效相对附着百分比<math> <mrow> <mi>A</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mn>100</mn> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>m</mi> <mn>3</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>m</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <msub> <mi>m</mi> <mn>1</mn> </msub> </mfrac> <mo>%</mo> <mo>,</mo> </mrow> </math> 减重百分比<math> <mrow> <mi>B</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mn>100</mn> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>m</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>m</mi> <mn>3</mn> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mrow> <msub> <mi>m</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>m</mi> <mn>1</mn> </msub> </mrow> </mfrac> <mo>%</mo> <mo>,</mo> </mrow> </math> A的取值范围为5~20%,B的取值范围为0~40%。
地址 100029北京市朝阳区惠新东街甲6号