| 主权项 |
1.一种用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其系包含:一个接收器,其具有一个输入端及一个输出端,其用于接收由一个串列埠之一传送线而来之一个测试讯号;一个传送器,其具有一个输入端及一个输出端,其用于传送一个测试讯号至该串列埠之一接收线,其中,该接收器之该输出端系连接至该传送器之该输入端,以用于建立一个回归连接;及一个参数测量电路,其系连接至该接收器之该输入端,以用于计算该串列埠之该传送线之稳态特性。2.如申请专利范围第1项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其中,该参数测量电路系进一步连接至该传送器之该输出端,以用于计算该串列埠之该接收线之稳态特性。3.如申请专利范围第1项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其进一步包含一个时间测量电路,其连接至该接收器之该输出端,以测量由该接收器接收之测试讯号的时序特性。4.如申请专利范围第1项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其进一步包含一个时间失真电路,其设置于该接收器之该输出端及该传送器之该输入端之间,以用于导引预定时序失真至该测试讯号之中,以提供至该串列埠之该接收线。5.如申请专利范围第1项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其进一步包含一个选择器,其系设置于该接收器之该输出端及该传送器之该输入端之间,以用于在该接收器之该输出端及一直接输入端之间作选择,其中,该直接输入端提供一个不同于该接收器所接收之该测试讯号之预定的串列位元流。6.如申请专利范围第1项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其中,该接收器系包含一个具有第一及第二可程式规划之临限値的差动比较器。7.如申请专利范围第1项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其中,该传送器系包含一个具有第一及第二可程式规划临限値的差动驱动器。8.一种用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其系包含:一个接收器,其具有一个输入端及一个输出端,其用于接收由一个串列埠之一传送线而来之一个测试讯号;一个传送器,其具有一个输入端及一个输出端,其用于传送一个测试讯号至该串列埠之一接收线,其中,该接收器之该输出端系连接至该传送器之该输入端,以用于建立一个回归连接;及一个时间失真电路,其设置于该接收器之该输出端及该传送器之该输入端之间,以用于导引预定时序失真至该测试讯号之中,以提供至该串列埠之该接收线。9.如申请专利范围第8项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其进一步包含一个时间测量电路,其连接至该接收器之该输出端,以测量由该接收器接收之测试讯号的时序特性。10.一种用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其系包含:一个接收器,其具有一个输入端及一个输出端,其用于接收由一个串列埠之一传送线而来之一个测试讯号;一个传送器,其具有一个输入端及一个输出端,其用于传送一个测试讯号至该串列埠之一接收线,其中,该接收器之该输出端系连接至该传送器之该输入端,以用于建立一个回归连接,其中,该接收器系具有至少一个可程式规划之输入临限値,且该传送器系具有至少一个可程式规划之输出准位。11.如申请专利范围第10项所述之用于在自动测试设备中测试串列埠之电路,其中,该接收器系包含一个差动比较器,且该传送器系包含一个差动驱动器。12.一种于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其系包含下列步骤:(A)计算该串列埠之一传送线及一接收线之至少一个的稳态特性;(B)构成该受测元件,以产生一串列位元流;(C)由该受测元件之该串列埠的该传送线而来之该串列位元流;(D)传送该接收到的串列位元流及一直接输入之一至该受测元件之串列埠的该接收线;及(E)监视该受测元件,以决定是否由该受测元件所接收之该串列位元流系匹配一期望之串列位元流。13.如申请专利范围第12项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其进一步包含:于步骤D传送该测试讯号至该受测元件之前,导引预定之时序失真至于步骤C中所接收之该测试讯号之步骤。14.如申请专利范围第13项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其中,该预定时序失真系包含抖动。15.如申请专利范围第12项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其进一步包含:以一时间测量电路测量于步骤B中接收到之该测试讯号的至少一个时序特性。16.如申请专利范围第12项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其中,于步骤C中,该串列位元流系以一具有至少一个输入临限値之电脑所接收,且该方法系进一步包含程式规划该至少一个临値,以测试是否该受测元件产生有效的输出准位。17.如申请专利范围第12项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其中,该传送之步骤D系包含程式规划该传送出之讯号之准位,以决定是否该受测元件于该程式规划之准位下回应该输入。18.如申请专利范围第12项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其中,该直接输入系包含演算法之输入,该演算法之输入系与于步骤C中所接收之该串列位元流不同。19.如申请专利范围第18项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其中,该演算法输入系包含一个1及0之虚拟随机序列及一个1及0之交替序列中之至少一个。20.如申请专利范围第12项所述之于自动测试系统中测试受测元件之串列埠的方法,其中,该直接输入传送一具有不同的该传送线之该串列位元流之频率之频率的串列位元流。图式简单说明:第1图系显示一个根据先前技艺之传统测试器结构;第2图系显示一个根据本发明之用于测试串列通讯埠之加强型回归装置;及第3图系显示使用示于第2图之该加强型回归装置之用于测试串列通讯埠之流程图。 |
