发明名称 剩余寿命预测方法、温度检测构造和电子装置
摘要 本发明涉及一种剩余寿命预测方法、温度检测构造和电子装置,通过可容易地掌握识别剩余寿命,可以进行维护管理,而不在生产工序等中产生障碍。本发明是检测装入在设备内的电解电容器24的温度,根据温度-寿命法则来运算实际使用中的剩余寿命,并显示剩余寿命。并具有这样的构造,即将电解电容器24和卷绕薄膜胶带23进行绝缘的温度传感器22容纳在热收缩管25内,使次级侧的温度传感器22紧贴在初级侧的电解电容器24上。
申请公布号 CN1439867A 申请公布日期 2003.09.03
申请号 CN03104896.X 申请日期 2003.02.21
申请人 欧姆龙株式会社 发明人 五十棲正志;大场恒俊
分类号 G01K7/00;H01G9/00 主分类号 G01K7/00
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 潘培坤;楼仙英
主权项 1.一种剩余寿命预测方法,用于预测对象物的剩余寿命,其特征在于,该方法包括:计算步骤,根据基于温度-寿命法则的运算式,计算规定温度下的剩余寿命;以及变换步骤,将算出的剩余寿命变换成实际使用中的剩余寿命。
地址 日本京都府