发明名称 半导体制造设备控制系统中配置设备单元工作状态控制法
摘要 一种半导体制造设备的控制系统中配置设备单元的状态控制方法,其中,主计算机中包括有预定的单元状态监控模块,通过单元状态监控模块能实时识别不正常工作单元,当识别出正常工作单元时立即将其与正常工作流程分开,结果,防止了由不正常工作单元造成的工作问题并提高了设备的生产力。
申请公布号 CN1120519C 申请公布日期 2003.09.03
申请号 CN98116733.0 申请日期 1998.07.30
申请人 三星电子株式会社 发明人 赵平日
分类号 H01L21/00;G06F19/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 杨梧;朱勤
主权项 1.一种在半导体制造系统中用于控制设备的方法,该方法包括:在半导体制造系统中连续接收来自设备的实时工作数据,该工作数据表明该设备的单元的工作条件;从数据库中检索对应于该设备的参考数据,该参考数据表明各个单元的工作范围;确定该工作条件是否在所有单元的工作范围内;如果工作条件在所有单元的工作范围内,就返回到所述自动接收工作状态数据步骤;如果工作条件不在特定单元的工作范围内,改变变量ID中与该特定单元相应的关键值,表明该特定单元的工作状态的改变;并修改该特定单元的工作状态,包括:在所述改变关键值之后,把变量ID插入到设备控制消息中,并将该设备控制消息下载到该设备中。
地址 韩国京畿道