发明名称 |
半导体制造设备控制系统中配置设备单元工作状态控制法 |
摘要 |
一种半导体制造设备的控制系统中配置设备单元的状态控制方法,其中,主计算机中包括有预定的单元状态监控模块,通过单元状态监控模块能实时识别不正常工作单元,当识别出正常工作单元时立即将其与正常工作流程分开,结果,防止了由不正常工作单元造成的工作问题并提高了设备的生产力。 |
申请公布号 |
CN1120519C |
申请公布日期 |
2003.09.03 |
申请号 |
CN98116733.0 |
申请日期 |
1998.07.30 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
赵平日 |
分类号 |
H01L21/00;G06F19/00 |
主分类号 |
H01L21/00 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
杨梧;朱勤 |
主权项 |
1.一种在半导体制造系统中用于控制设备的方法,该方法包括:在半导体制造系统中连续接收来自设备的实时工作数据,该工作数据表明该设备的单元的工作条件;从数据库中检索对应于该设备的参考数据,该参考数据表明各个单元的工作范围;确定该工作条件是否在所有单元的工作范围内;如果工作条件在所有单元的工作范围内,就返回到所述自动接收工作状态数据步骤;如果工作条件不在特定单元的工作范围内,改变变量ID中与该特定单元相应的关键值,表明该特定单元的工作状态的改变;并修改该特定单元的工作状态,包括:在所述改变关键值之后,把变量ID插入到设备控制消息中,并将该设备控制消息下载到该设备中。 |
地址 |
韩国京畿道 |