| 主权项 |
1.一种信号检测装置,其具备有:配置成矩阵状的复数个信号转送用电晶体;连接于上述各信号转送用电晶体之第一端子的信号检测机构;连接于上述各信号转送用电晶体之第二端子的资料线;连接于上述各信号转送用电晶体之控制端子的控制线;用以驱动上述控制线的控制线驱动电路;资料读出线,藉由开关用电晶体分别连接在预定之复数条的上述资料线上;以及开关驱动电路,实质上以相同的时序来驱动对应于上述预定之复数条资料线的上述开关用电晶体。2.如申请专利范围第1项之信号检测装置,其中,上述开关驱动电路系相对于上述预定之复数条资料线设置1个。3.如申请专利范围第1项之信号检测装置,其中,上述控制线驱动电路系相对于复数条控制线设置1个。4.如申请专利范围第1项之信号检测装置,其中,以利用从上述开关驱动电路所输出之脉冲的分时方式进行来自上述信号检测机构的资料之读出。5.如申请专利范围第3项之信号检测装置,其中,藉由同时提升上述复数条控制线,以进行面状资料之读出。6.如申请专利范围第1项之信号检测装置,其中,上述信号转送用电晶体及上述开关用电晶体,系由多晶矽薄膜电晶体所构成。7.如申请专利范围第1项之信号检测装置,其中,上述信号转送用电晶体及上述开关用电晶体,系由有机材料或有机材料与无机材料之混成材料所制成的薄膜电晶体所构成。8.如申请专利范围第1项之信号检测装置,其中,上述复数个信号转送用电晶体、上述信号检测机构、上述控制线驱动电路、及上述开关驱动电路系设置在同一基板上。9.如申请专利范围第8项之信号检测装置,其中,用以比较读出资料与储存之资料的比较电路,亦形成于上述同一基板上。10.如申请专利范围第1至9项中任一项之信号检测装置,其中,上述复数条控制线,系包含有第一控制线与第二控制线;上述复数条资料线,系包含有第一资料线与第二资料线;上述复数个信号检测机构,系包含有与上述第一控制线和上述第一资料线相连接的第一信号检测机构、及与上述第二控制线和上述第二资料线相连接的第二信号检测机构;上述复数条资料读出线,系包含有连接于上述第一资料线的第一资料读出线、及连接于上述第二资料线的第二资料读出线;上述开关驱动电路,系包含有共同连接于上述第一资料线及上述第二资料线的第一开关驱动电路;藉由同时提升上述第一控制线与上述第二控制线,且提升上述第一开关驱动电路,并透过上述第一资料读出线与上述第二资料读出线,可同时读出与上述第一控制线相连接的第一信号检测机构之资料、及与上述第二控制线相连接的第二信号检测机构之资料。11.如申请专利范围第1至9项中任一项之信号检测装置,其中,上述控制线,系包含有第一控制线;上述复数条资料线,系包含有第一资料线与第二资料线;上述复数个信号检测机构,系包含有与上述第一控制线相连接的第一信号检测机构及第二信号检测机构;上述复数条资料读出线,系包含有连接于上述第一资料线的第一资料读出线、及连接于上述第二资料线的第二资料读出线;上述开关驱动电路,系包含有共同连接于上述第一资料线及上述第二资料线的第一开关驱动电路;藉由同时提升上述第一控制线与上述第一开关驱动电路,并透过上述第一资料读出线与上述第二资料读出线,可同时读出与上述第一控制线相连接的第一信号检测机构及第二信号检测机构之资料。12.一种信号检测装置,其具备有:配置成矩阵状的复数个信号转送用电晶体;连接于上述各转送用电晶体之源极,并且用以检测面压力的机构;连接于上述各转送用电晶体之汲极的资料线;连接于上述各转送用电晶体之闸极的闸极线;用以驱动上述闸极线的闸极线驱动电路;资料读出线,藉由开关用电晶体分别连接在预定之复数条上述资料线上;以及开关驱动电路,相对于上述预定之复数条资料线设置1个,且用以驱动上述开关用电晶体之闸极。图式简单说明:第1图系显示本发明第一实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之电路构成的方块图。第2图系显示第1图所示第一实施形态之面压力输入面板中之H开关驱动电路及检测部之内部构成的电路图。第3图系用以说明第1图所示第一实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之动作的时序图。第4图系显示本发明第二实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之电路构成的方块图。第5图系显示本发明第三实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之电路构成的方块图。第6图系显示本发明第四实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之电路构成的方块图。第7图系用以说明本发明第四实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之动作的时序图。第8图系显示本发明第五实施形态之有源矩阵型面压力输入面板之整体构成的平面配置图。第9图系显示习知二次元图像感测器(信号检测装置)之电路构成的方块图。 |
