发明名称 对施加到诊断用X射线管上的电压的间接测量
摘要 一个CT系统包括一对位于其检测器阵列中的检测器,其对来自射线源的穿过X射线差厚过滤器之后的X射线强度进行测量。把这两个检测器部件产生的信号之比输入给一个KV计算器,该KV计算器产生一个代表X射线管电压的信号。
申请公布号 CN1119664C 申请公布日期 2003.08.27
申请号 CN95190148.6 申请日期 1995.02.08
申请人 通用电气公司 发明人 M·F·加德;J·M·桑力克
分类号 G01R19/00;H05G1/26;A61B6/00 主分类号 G01R19/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 董巍;王忠忠
主权项 1.一种对施加给X射线管的电压进行测量的装置,它包括:一对X射线检测器(18),设置在X射线管(13)所产生的X射线束中,并进行工作以产生代表所检测的X射线的强度的各自的信号IA和IB;一个差厚过滤器(40),设置在X射线束中,以便对由所说的X射线检测器(18)中的一个所检测的X射线强度的衰减量明显大于对由所说的X射线检测器(18)的另一个所检测的X射线强度的衰减量;和电压计算装置(41),连接该电压计算装置(41)以接收检测器信号IA和IB,并用检测器信号IA和IB的比值(R)来计算管电压(KV),其中按照如下关系式计算管电压(KV):<math> <mrow> <mi>KV</mi> <mo>=</mo> <mo>-</mo> <mfrac> <mn>1</mn> <msub> <mi>K</mi> <mn>2</mn> </msub> </mfrac> <mi>ln</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <mrow> <mi>R</mi> <mo>-</mo> <msub> <mi>K</mi> <mn>0</mn> </msub> </mrow> <msub> <mi>K</mi> <mn>1</mn> </msub> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </math> 其中K0、K1和K2是常数。
地址 美国纽约州