| 主权项 |
一种晶片测试机(一),包括有:一机台,上具有平台,平台内具有分类集中盒;另机台上有操作用之键盘及控制单元等;一入料组,其入料斗与支架连设,并衔接导料槽;该导料槽下有振动器,与支架同时组设于滑座上;该滑座与固定座纽设且由旋钮穿过固定座,使滑座可受旋钮螺紧或放松作定位或滑移;一分配器,位于输送轮及导料槽之间以承接晶片,并分配送入输送轮的定位槽内,该分配器内之容室可供容置相当数量的待测试晶片,且与输送轮接近的凹弧面两侧具有斜导面,使晶片可以顺利依序被分配至定位槽内;一输送轮,由机台内之动力源配合传动元件可以作顺时针转动,上除在外周缘设有等距分布的定位槽外,亦设有与定位槽相同数目且相对应之侦测孔;一测试组,置于输送轮之上,由固定架下连设有气缸,气缸表面的滑轨组设有内、外滑块恰好位于输送轮之内、外侧,藉此可同时组设数组测试组,再依需情况在其中一组或一组以上的内、外滑块连设有探针作晶片之感测;一分类台,具有内、外弧板恰好位于输送轮内外侧,且分别连接有吹管及导管;其中导管再连接至分类集中盒位在平台上的入口端处,使吹管可以将已测试的晶片依其测试结果之分类,将晶片分别吹入导管进入各分类集中盒;一分类台,固设于滑块可在固定座的滑轨上左右移动;该滑块枢接一连接片,连接片另一端则枢接在转轮的凹槽内;当转动转轮使连接片将滑块朝向输送轮处移动并定位,则内、外弧板恰可对应于定位槽处,使吹管及导管可以顺利将已测试的晶片吹出;反之,当转轮以反方向转动,可利用连接片将之拉回以利故障排除或检修,且固定座上具有两相对应的左、右挡块,恰可供滑块上的凸块接触作左、右位移的明确界定;侦测及清除装置,由定位侦测组、晶片侦测组及晶片清除组所组合而成;该定位侦测组上之感测器对应于侦测孔处,而晶片侦测组之感测器对应于定位槽处以检知该定位槽内是否残留未吹出的已测试过之晶片;而晶片清除组系于板架上设有滑轨供组设一滑块,该滑块前端具有推针恰好对应于定位槽处;当晶片侦测组的感测器感测有残留的晶片时,滑块内的气缸即作动,使推针及时推出将该晶片顶出清除;藉由以上元件之组成,可将待测试的晶片倒入入料斗内,由导料槽配合振动器的振动及晶片逐渐落入分配器的容室内待料,再由凹弧面处一一分配落入转动的输送轮之定位槽内,并经过测试组之测试后,由分类台的吹管予以依测试结果及分类适时将该定位槽内之晶片吹入导管内送至分类集中盒内;此时若晶片侦测组的感测器若感测到吹过的定位槽内若有残留的晶片时,即可利用推针予以适时清除;而整个输送轮之转动定位均由定位侦测组利用感测器配合侦测孔的感测作所需的精密定位。图式简单说明:第一图:本创作之前视图第二图:本创作之侧视图第三图:本创作之前视部份放大示意图第四图:本创作之俯视部份放大示意图第五图:本创作之分配器俯视图第六图:本创作之分配器前视图第七图:本创作之分配器侧视图第八图:本创作之侧视部份放大示意图第九图:本创作之测试组俯视示意图第十图:本创作之测试组前视示意图第十一图:本创作之测试组侧视示意图第十二图:本创作之分类台前视图第十三图:本创作之分类台俯视图第十四图:本创作之定位侦测组俯视图第十五图:本创作之定位侦测组前视图第十六图:本创作之定位侦测组侧视图第十七图:本创作之侦测及清除装置侧视组合图 |
