荧光体检测方法及荧光体检测装置

摘要

本发明提供一种荧光体检测方法及荧光体检测装置，在对涂在等离子显示器等玻璃基板上的荧光体带的涂敷不匀的检测中，存在一些问题，例如由于受带状涂敷的荧光体的非发光部分的影响而发生干扰条纹现象，以及由于为使荧光体发光带发光而使用的紫外线照明的照明不匀，而不能准确地检测荧光体带的涂敷不匀。该检测方法是：对形成于基板上的若干个带状荧光体照射紫外线，并拍摄上述带状荧光体所发出的光，检测上述拍摄的图像的信号电平，算出相当于上述信号电平所定值以上的信号电平那部分的平均值，再根据算出的平均值来检测上述带状荧光体的涂敷不匀。

主权项

1.荧光体检测方法，其特征在于包括以下步骤：向形成于基板上的若干个带状荧光体照射电磁波或粒子线；拍摄由上述带状荧光体发射的光；检测上述所拍摄的图像的信号电平；算出相当于上述信号电平的所定值以上的信号电平那部分的平均值；根据上述算出的平均值检测上述带状荧光体的涂敷不匀。