发明名称 Simulation-test procedure for an integrated circuit
摘要
申请公布号 EP1324061(A3) 申请公布日期 2003.08.20
申请号 EP20020080373 申请日期 2002.12.19
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 SOUEF, LAURENT;SOLARI, EMMANUEL;ROGGE, SOENKE;KYTZIA, RAINER;WITTKE, MICHAEL
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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