发明名称 Halbleiterspeicherbaustein und ein zugehöriges Einschaltleseverfahren
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterspeicherbaustein (100) mit einem Speicherzellenfeld (110), das als Matrix mit Zeilen und Spalten ausgeführt ist, und auf ein zugehöriges Einschaltleseverfahren. DOLLAR A Erfindungsgemäß sind ein Spannungsdetektor (180) zum Aktivieren eines ersten Detektionssignals (PWRUP), wenn eine Versorgungsspannung während der Einschaltphase eine erste Detektionsspannung erreicht, ein Lesespannungsgenerator (200) zum Erzeugen einer Lesespannung (V¶WL¶) in Abhängigkeit des ersten Detektionssignals (PWRUP) und zum Aktivieren eines zweiten Detektionssignals (Comp), wenn die Lesespannung (V¶WL¶) eine zweite Detektionsspannung (Vref) erreicht, ein Lesestart-Generator (210) zum Erzeugen eines Lesestart-Signals (READ_START) in Abhängigkeit von der Aktivierung des zweiten Detektionssignals (Comp) und eine Leseschaltung zum Auslesen von Daten aus dem Speicherzellenfeld (110) in Abhängigkeit vom Lesestart-Signal (READ_START) vorgesehen. DOLLAR A Verwendung z. B. für nichtflüchtige Halbleiterspeicherbauelemente.
申请公布号 DE10304173(A1) 申请公布日期 2003.08.14
申请号 DE20031004173 申请日期 2003.01.29
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, SEUNG-KEUN
分类号 G11C17/12;G11C7/20;G11C8/08;G11C8/10;G11C16/06;G11C16/26;G11C16/30;(IPC1-7):G11C5/14;G11C7/00 主分类号 G11C17/12
代理机构 代理人
主权项
地址