Halbleiterspeichereinheit

摘要

In einem Chip mit an vier Seiten vorgesehenen Kontaktstellen können I/O-Defekte des Chips mit auf zwei Seiten des Chips angewandten bzw. daran angelegten Testsonden bestimmt werden. Eine Halbleiterspeichereinheit besitzt Datenkontaktstellen, an welchen Daten eingegeben/ausgegeben werden und welche an zwei vorbestimmten Seiten angeordnet sind, und Steuerkontaktstellen, an welchen Steuerdaten eingegeben/ausgegeben werden und an anderen zwei Seiten angeordnet sind. Die Einheit enthält Testschaltungen, welche in Reihe und an entsprechende Datenkontaktstellen angeschlossen sind, und besitzt eine Registerschaltung. Die Registerschaltung hält und gibt eingegebene Daten auf der Grundlage eines Testsignals aus. Speicherelemente speichern Daten und sind an eine entsprechende Testschaltung angeschlossen. Zur Zeit des Testens speichern die Elemente die Daten von einer vorbestimmten Datenkontaktstelle und übertragen sie einer vorbestimmten Testschaltung. Die Registerschaltung liest die Daten in dem entsprechenden Speicherelement und gibt sie von der vorbestimmten Datenkontaktstelle über eine andere Registerschaltung aus.