| 发明名称 |
Prüfung einer integrierten Halbleiterschaltung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69722313(D1) |
申请公布日期 |
2003.07.03 |
| 申请号 |
DE19976022313 |
申请日期 |
1997.06.30 |
| 申请人 |
NEC ELECTRONICS CORP., KAWASAKI |
发明人 |
ISHIDA, RYUJI |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F12/16;G11C29/12;(IPC1-7):G11C29/00;G06F11/22 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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