发明名称 弹性接脚之检验装置
摘要 一种弹性接脚之检验装置,用以检验一测试机台之一弹性接脚,该装置包括一电路基板、一电压源及一侦测装置。其中,电路基板具有一接触垫。电压源提供接触垫与弹性接脚间一电压差。当电路基板向弹性接脚推近而使接触垫与弹性接脚接触时,侦测装置则侦测上述之电压差所产生之一电流而发出一连接讯息。伍、(一)、本案代表图为:第3图(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明:1~半导体测试机台;11、12~弹性接脚;13~电压源;2~弹性接脚检验装置;21~电路基板;22~发光二极体;23~接触垫。
申请公布号 TW539133 申请公布日期 2003.06.21
申请号 TW091219143 申请日期 2001.05.17
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 魏如良;陈怡玲
分类号 G01R1/06 主分类号 G01R1/06
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种弹性接脚之检验装置,用以检验一测试机台之一弹性接脚,该装置包括:一电路基板,具有一接触垫;一电压源,提供该接触垫与该弹性接脚间一电压差;以及一侦测装置,当该电路基板向该弹性接脚推近而使该接触垫与该弹性接脚接触时,侦测该电压差所产生之一电流而发出一连接讯息。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该侦测装置系连接于该接触垫与该电压源之间。3.如申请专利范围第1项所述之装置,该侦测装置系一发光二极体,当该接触垫与该弹性接脚接触时,因该电流产生之光线而发出该连接讯息。4.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该电压源系设置于该测试机台中。5.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该侦测装置系设置于该电路基板上。6.如申请专利范围第5项所述之装置,其中该电路基板中设有一介层孔,该接触垫与该侦测装置系分别设置于该电路基板之两面,该侦测装置之第一连接端系经由该介层孔与该接触垫电性连接。图式简单说明:第1图系一半导体测试机台弹性接脚之示意图;第2图系本发明一实施例之弹性接脚检验装置之上视图;第3图系本发明一实施例之弹性接脚检验装置之部份剖面图;第4图系本发明一实施例之弹性接脚检验装置之部份剖面图;第5图系本发明一实施例之弹性接脚检验装置之部份剖面图;第6图系本发明一实施例之弹性接脚检验装置之部份剖面图;第7图系本发明一实施例之弹性接脚检验方法之流程图。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路十九号三楼