| 发明名称 |
Testeinrichtung für eine integrierte Schaltungsanordnung |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE10137697(C2) |
申请公布日期 |
2003.06.18 |
| 申请号 |
DE20011037697 |
申请日期 |
2001.08.01 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
MORGAN, ALAN;FISCHER, HELMUT |
| 分类号 |
G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/317;G01R31/318;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/3193 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
