| 发明名称 |
Optical probe for wafer scale testing of light-electrical (l-i-v) performance of optoelectronic devices |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2002339183(A8) |
申请公布日期 |
2003.06.10 |
| 申请号 |
AU20020339183 |
申请日期 |
2002.11.18 |
| 申请人 |
DENSELIGHT SEMICONDUCTORS PTE LTD |
发明人 |
YUEN CHUEN CHAN;SENG LEE NG;YEE LOY LAM;LAY CHENG CHOO |
| 分类号 |
G02B6/42;(IPC1-7):G02B6/42 |
主分类号 |
G02B6/42 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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