发明名称 薄膜晶体管的制造方法
摘要 一种制造半导体器件的方法,其特征是,提供了高速的运行和高可靠性,其中由CW激光结晶的半导体层用于TFT的有源层。当由CW激光结晶一个半导体层时,由于宽度方向上的能量密度分布,一部分形成大晶粒,而另一部分形成微型晶粒。前者展现了良好的电气特性。后者的电气特性很差,因为晶粒边界阻碍电荷的移动,由此当用作一个晶体管的有源层时会引起麻烦。因此,对电路进行设置,将大晶粒形成的半导体层用于每个TFT的有源层。
申请公布号 CN1421907A 申请公布日期 2003.06.04
申请号 CN02152794.6 申请日期 2002.11.28
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 棚田好文;中岛和哉
分类号 H01L21/324;H01L21/20;H01L21/336;H01S3/00 主分类号 H01L21/324
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;梁永
主权项 1.一种制造薄膜晶体管的方法,包括:在一个基片上形成一个非晶半导体薄膜;施加相对于基片收集的激光束,利用该激光束辐照该非晶半导体薄膜,形成一个结晶的半导体薄膜;和蚀刻该结晶半导体薄膜,形成一个有源层,其中激光束辐照区域的宽度为有效辐照区域宽度D、有效辐照区域左侧的区域宽度d和有效辐照区域右侧的区域宽度d的总和,和其中,当V=0时,用于该有源层的结晶半导体薄膜是在距离L内的区域以外的区域形成的,L表示为n(D+2d)-d≤L≤n(D+2d)+d和0≤L(n为一个整数,0≤n),V为激光束扫描时相邻的激光束重叠的宽度,L为在与激光束扫描方向垂直的方向上与原点之间的距离,该原点为一个激光束辐照对象上的辐照区域一端内的一个点。
地址 日本神奈川县