| 发明名称 | 光学机构调整校验工具 | ||
| 摘要 | 一种光学机构调整校验工具，由一校验块结构构成，该校验块上设有三维空间定位基准，其特征在于：所述三维空间定位基准由两个定位面和一个轴定位结构组成，轴定位结构由U形槽[1]构成，其底部半圆圆心为定位轴线[6]，一个定位面与定位轴线[6]垂直，另一个定位面与定位轴线[6]平行；与定位轴线[6]平行的定位面上设有至少两处校验标识[2]，该校验标识[2]在校验块上以漏空结构与测试板[5]上标识[3]位置对应。本实用新型在校验测试板的标识上设有刻度标，只要将校验块在OMA器具上准确定位，就可以通过放大读取数据进行准确校验，这样既简化了校验操作，又使校验作业变得快速而有效，而且工具简单，制作成本低。 | ||
| 申请公布号 | CN2554650Y | 申请公布日期 | 2003.06.04 |
| 申请号 | CN02219763.X | 申请日期 | 2002.04.02 |
| 申请人 | 力捷电脑（中国）有限公司 | 发明人 | 王远红;梁余一 |
| 分类号 | G02B27/62 | 主分类号 | G02B27/62 |
| 代理机构 | 苏州创元专利事务所有限公司 | 代理人 | 马明渡 |
| 主权项 | 1、一种光学机构调整校验工具，由一校验块结构构成，该校验块上设有三维空间定位基准，其特征在于：所述三维空间定位基准由两个定位面和一个轴定位结构组成，轴定位结构由U形槽[1]构成，其底部半圆圆心为定位轴线[6]，一个定位面与定位轴线[6]垂直，另一个定位面与定位轴线[6]平行；与定位轴线[6]平行的定位面上设有至少两处校验标识[2]，该校验标识[2]在校验块上以漏空结构与测试板[5]上标识[3]位置对应。 | ||
| 地址 | 215011江苏省苏州市新区竹园路8号 | ||