| 主权项 |
1.一种「晶片被动元件可调式量测治具」,其设有两相对杆件,该等杆件于一端活动枢接,并配接入导线及一端连接检测仪表与电源之接头;该等导线另端则穿过杆身,以连接设于上述杆件另端之两分开测针;于此等测针略后方则在两杆件之间设有一可接合连动两杆件之调整转轮及其相关弹簧;依上述定位后局部外露之测针间距系透过上述调整转轮加以控制调整。2.如申请专利范围第1项所述之「晶片被动元件可调式量测治具」,其中,该等杆件一端系以一中间夹轮,配合一螺栓及弹簧连接于两杆件内侧相对通孔及内螺孔,而成活动枢接状态。3.如申请专利范围第1项所述之「晶片被动元件可调式量测治具」,其中,该等杆件设有底凹沟以置入导线,且由一侧缺口穿出导线,而于两杆件外周缠绕绝缘胶布。4.如申请专利范围第1项所述之「晶片被动元件可调式量测治具」,其中,该等测针设有绝缘板,供将此等测针分别固定于两杆件之另端表面。5.如申请专利范围第4项所述之「晶片被动元件可调式量测治具」,其中,该等绝缘板设有电路线以连接测针。6.如申请专利范围第1项所述之「晶片被动元件可调式量测治具」,其中,该等测针系设置为两组双针式,供分别连接导线。7.如申请专利范围第1项所述之「晶片被动元件可调式量测治具」,其中,该调整转轮两侧之相对反向螺杆各锁穿两杆件,并且锁接一固定螺帽。图式简单说明:第1图系本创作较佳实施例立体图;第2图系第1图之元件分解图;第3-5图系本创作测针调整成不同间距状态图;以及第6图系本创作另一种测针实施例图。 |
