发明名称 扫描头光学解析能力测试方法
摘要 一种扫描头光学解析能力测试方法,设计一组能够衡量X方向和Y方向黑白解晰能力的光学测试图案,将这种测试板置于扫描头光路的物距位置上,通过软件从电荷耦合器分别采集对应横向和纵向黑白解晰能力的一系列相关数据,然后通过数学模型分别计算X方向中红波(Red)、绿波(Green)和蓝波(Blue)三项解晰度值和Y方向中红波(Red)、绿波(Green)和蓝波(Blue)三项解晰度值,最后通过这六项指标与已有规格(Spec)进行比较,来判断该光学系统对黑白的解晰能力。其中数学模型的光学含义是按每个方向每种颜色波分别求出:线条区域白黑色差与白黑区域线性转换后的参考白黑色差的比值。本发明测试精确,抗干扰能力强,测试结果确保还原生成影象的真实性和有效性,是一种先进、科学、实用的光学解晰能力测试方法。
申请公布号 CN1420347A 申请公布日期 2003.05.28
申请号 CN02138496.7 申请日期 2002.10.23
申请人 力捷电脑(中国)有限公司 发明人 余陆青
分类号 G01M11/02 主分类号 G01M11/02
代理机构 苏州创元专利事务所有限公司 代理人 马明渡
主权项 1、一种扫描头光学解析能力测试方法,在扫描头光路的物距位置上放置一个印有黑白几何图案的光学测试板,通过软件方式采集测试板上黑白几何图案在电荷耦合器上所对应的相关信号值,并通过相应的数学模型计算出与光学解析能力相关的指标,通过这种指标来衡量该光学系统的解析能力,其特征在于:所述光学测试板以标准白色底为背景,其上印有标准黑色的几何图形和线条图案,几何图形由两个标准黑区域组成,并分别布置在两端位置上;线条图案由一组表示X方向的纵向平行X线和一组表示Y方向的横向平行Y线构成,并左右布置在中间位置上;各几何图形和线条图案沿扫描线长度方向相隔布置,以此构成左黑、左白、X线、中白、Y线、右白、右黑各图形或图案区域;所述光学解析能力的测试和计算分X方向和Y方向进行,每个方向对应红波(Red)、绿波(Green)和蓝波(Blue)又分为三项分别计算,其数学模型为:X-MTFc=(a(x,c)-b(x,c))/(A(x,c)-B(x,c))Y-MTFc=(a(y,c)-b(y,c))/(A(y,c)-B(y,c))式中:X-MTFc、Y-MTFc分别表示X和Y方向上在某色波方面的解析能力值,其中下标x、y分别表示X方向和Y方向,下标c表示红、绿、蓝三色中一种;a(x,c)、a(y,c)分别表示X方向和Y方向的X、Y线条区域中参考白在某色种方面的最大值;b(x,c)、b(y,c)分别表示X方向和Y方向的X、Y线条区域中参考黑在某色种方面的最小值;A(x,c)、A(y,c)分别表示参考白色线性转换到X方向和Y方向后在某色种方面的值;B(x,c)、B(y,c)分别表示参考黑色线性转换到X方向和Y方向后在某色种方面的值;A(x,c)=(V1-V2)×D1/D2+V2A(Y,c)=(V1-V3)×D3/D4+V3B(x,c)=(V5-V4)×D5/D6+V4B(Y,c)=(V4-V5)×D7/D6+V5式中:V1、V2、V3、V4、V5分别表示中白、左白、右白、左黑、右黑区域在某色种方面的平均值;D1表示左白中点到X线中点的距离;D2表示左白中点到中白中点的距离;D3表示右白中点到Y线中点的距离;D4表示右白中点到中白中点的距离;D5表示左黑中点到X线中点的距离;D6表示左黑中点到右黑中点的距离;D7表示右黑中点到Y线中点的距离。
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