发明名称 ELECTRON BEAM EXPOSURE DEVICE
摘要 <p>L'invention concerne un dispositif d'exposition à faisceau d'électrons à haut débit contenu dans un système d'exposition fermé. Ce dispositif comprend un étage; une colonne optique électronique; une chambre à vide; une partie mécanisme de transfert de masque destinée à transférer un masque vers la colonne optique électronique après que le masque a été retiré d'une cassette de masque à l'état de pression atmosphérique et à mettre l'intérieur du masque à l'état de vide; une chambre de préchargement destinée à recevoir une plaquette à partir d'une cassette de plaquette et à distribuer cette plaquette vers ladite cassette; ainsi qu'une chambre de chargement destinée à transférer la plaquette vers l'étage, après l'avoir reçue de la chambre de préchargement à l'état de pression atmosphérique, puis à mettre l'intérieur de celle-ci à l'état de vide et à transférer la plaquette vers ladite chambre de préchargement après l'avoir reçue de l'étage à l'état de vide, et à mettre l'intérieur de ladite plaquette à l'état de pression atmosphérique.</p>
申请公布号 WO2003041135(P1) 申请公布日期 2003.05.15
申请号 JP2002011622 申请日期 2002.11.07
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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