发明名称 Verfahren zur Detektion eines Logikzustands und zugehörige integrierte Halbleiterschaltung
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Detektion eines Logikzustands, der durch ein Eingangssignal repräsentiert wird, wobei eine Eingangssignalspannung empfangen und der von der empfangenen Eingangssignalspannung repräsentierte Logikzustand, basierend auf einem Referenzsignal, bestimmt wird, sowie auf eine integrierte Halbleiterschaltung mit einer Vorrichtung zur Durchführung eines solchen Detektionsverfahrens. DOLLAR A Erfindungsgemäß wird die Referenzspanung (VREFo, VREFe) von einem Referenzsignalerzeugungsschaltkreis (20) auf Basis einer vorausgehend empfangenen Eingangssignalspannung erzeugt. DOLLAR A Verwendung z. B. für integrierte Halbleiterspeicher-Schaltungsbauelemente vom DRAM-Typ, die mit niedriger Spannung und hoher Geschwindigkeit betreibbar sind.
申请公布号 DE10238494(A1) 申请公布日期 2003.04.24
申请号 DE20021038494 申请日期 2002.08.20
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 NOH, KWANG-SOOK
分类号 H03K5/08;H04L25/02;H04L25/03;H04L25/06;(IPC1-7):G11C7/10;G11C11/407 主分类号 H03K5/08
代理机构 代理人
主权项
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