发明名称 片状材料间之对齐方法、对齐方法、基板组合之对齐方法与对齐装置
摘要 本发明提供一种片状材料间之对齐方法、一种对齐方法、一种基板组合方法以及一种对齐装置,其可容易并可确保高精确对齐之施行,并可抑制材料良率之下降。在根据类带光为参考下施行对齐之后,根据与双凸透镜之聚光部连接为参考下施行对齐。尤其是利用从光源射出之光聚光于双凸透镜呈类带状为参考,修正在转动方向中之液晶显示单元偏差。接着藉由调整显微镜之焦点深度,可施行对液晶显示单元之黑矩阵及双凸透镜之聚光部连接的位置测量。再来,根据测量结果,施行液晶显示单元与双凸透镜间之水平对齐。
申请公布号 TW528855 申请公布日期 2003.04.21
申请号 TW090130399 申请日期 2001.12.07
申请人 万国商业机器公司 发明人 野口 通一;平藤 常夫;铃木 优;伊凡 乔治 寇尔更
分类号 G01D11/24 主分类号 G01D11/24
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种具在其上形成之特定图样并由可穿透材质制得之一第一片状材料与在第一片状材料上之薄板之一第二片状材料间之对齐方法,其包括步骤如:将位于第一片状材料侧上之一显微镜焦点设定于第一片状材料上,第一及第二片状材料呈薄板状态,以对第一片状材料特定部位置施行测量,设定显微镜焦点于第二片状材料上,以对第二片状材料特定部位置施行测量;以及根据第一与第二片状材料之测量位置,施行第一与第二片状材料间之对齐。2.如申请专利范围第1项之片状材料间的对齐方法,其中该第一片状材料系一液晶显示单元,其包含如特定图样、信号与闸极线,以及一黑矩阵,其系覆盖于以矩阵形式排列之线上,以及根据选自信号线、闸极线及黑矩阵之一,施行液晶显示单元位置之测量。3.如申请专利范围第1项之片状材料间对齐方法,其中该第二片状系一透镜片,其包含以阵列配置于其上之复数个透镜部分,以及在透镜部分彼此相邻连接处施行透镜片位置之测量。4.如申请专利范围第1项之片状材料间的对齐方法,其中在复数个地方施行对第一及第二片状材料位置之测量,以及根据在各地方测量之第一与第二片状材料位置,施行第一与第二片状材料间之对齐。5.一种具不透光之非穿透部之玻璃基板与玻璃基板上之呈薄板状之透镜片间之对齐方法,其包括步骤如:自薄板侧入射参考光于玻璃基板及呈薄板状之透镜片上;以及将玻璃基板与通过透镜片之参考光对齐。6.如申请专利范围第5项之对齐方法,其中该参考光系平行光束。7.如申请专利范围第6项之对齐方法,其中该参考光会聚于透镜片,并投射于玻璃基板做为类带光。8.如申请专利范围第6项之对齐方法,其中该玻璃基板之参考光大抵上与玻璃基板垂直方向入射其上。9.如申请专利范围第5项之对齐方法,其中对该玻璃基板对齐之施行,系藉由相对于参考光,对齐玻璃基板之非穿透部分。10.一种对齐方法,其包括:一第一步骤,使得平行光束自双凸透镜侧入射于具接线部分之液晶显示单元上,而双凸透镜具在一方向上延伸之复数个阵列配置之会聚透镜,俾藉由在会聚透镜会聚之平行光束所得之类带参考光来相对对齐液晶显示单元;一第二步骤,以观察工具施行液晶显示单元接线部分之位置测量,此系在将配置于液晶显示单元上之观察工具焦点设定于液晶显示单元之后为之,并以观察工具施行对会聚透镜连接处之测量,此系在将观察工具焦点设定双凸透镜之后为之;以及一第三步骤,施行液晶显示单元及双凸透镜间之对齐,此系根据测量所得之接线部分位置及双凸透镜连接处为之。11.如申请专利范围第10项之对齐方法,其中在第一步骤中,修正在相对于参考光之转动方向中之液晶显示单元误差,以及在第三步骤中,修正双凸透镜与液晶显示单元间误差,其于与会聚透镜延伸方向垂直之方向上为之。12.如申请专利范围第10项之对齐方法,其中在第二步骤中,为测量接线部分位置,在宽度方向之中心线上测量接线部分位置。13.如申请专利范围第10项之对齐方法,其中特别利用在液晶显示单元之显示区外之一框架为参考,施行对接线部分位置之测量。14.如申请专利范围第10项之对齐方法,其中在第二步骤中,接线部分位置及会聚透镜连接处系分别在两处测量,该两处与其间之液晶显示单元中心线相间;以及在第三步骤中,在液晶显示单元与双凸透镜间对齐之施行,系利用液晶显示单元中心线为参考,根据在两处测得之位置结果。15.一种基板组合方法,其包括步骤如:利用内插一未硬化黏着物,将一玻璃基板及一透镜片制成薄板;变化焦点深度,将与玻璃基板相对配置之显微镜焦点设定于各玻璃基板及透镜片上,施行各玻璃基板及透镜片之特定部分位置之测量;施行玻璃基板及透镜片间之对齐,其根据各玻璃基板及透镜片之特定位置;以及硬化该粘着物。16.一种对齐装置,其包括:单元固定工具,用以固定液晶显示单元;透镜固定工具,用以固定在液晶显示单元上呈薄板状之双凸透镜;驱动工具,用以沿着液晶显示单元之一表面之表面,驱动至少一单元及透镜固定工具之一;观察工具,与液晶显示单元相对配置,并可用以改变其焦点深度;位置资料观察工具,用以观察液晶显示单元与双凸透镜位置资料,其根据观察工具所得影像;以及控制工具,用以控制驱动工具,其根据位置资料观察工具所得位置资料。17.如申请专利范围第16项之对齐装置,更包括一光源,用以发射平行光束至双凸透镜,其为透镜固定工具所固定。18.如申请专利范围第16项之对齐装置,其中观察工具包含第一观察工具,用以在一转动方向上测量液晶显示单元与双凸透镜间之偏差,以及第二观察工具,用以在双凸透镜内一垂直于透镜部分之连续方向上测量液晶显示单元与双凸透镜间之偏差。19.如申请专利范围第18项之对齐装置,其中第二观察工具系配置于液晶显示单元之一端及另一端,第二观察工具彼此以一特定距离相间,其垂直于透镜部分之连续方向。图式简单说明:图1所示系依具体实施例之对齐装置系统组态图。图2所示系部分对齐装置各平台单元建构图。图3所示系依第一具体实施例,设定显微镜焦点于液晶显示单元状态图。图4所示系图3状态所得影像图。图5所示系设定显微镜焦点于双凸透镜状态图。图6所示系经修正之图5状态中,在转动方向之偏差影像图。图7所示系在转动方向上之液晶显示单元及双凸透镜偏差状态图。图8(a)与8(b)所示系在垂直方向上经液晶显示单元及双凸透镜间偏差修正之显微镜影像图,图8(a)特别显示聚焦于液晶显示单元上之影像;以及图8(b)所示系聚焦于双凸透镜上之影像图。图9所示系依第二具体实施例,在显微镜焦点经设定于液晶显示单元状态下,并投射平行光束所得影像图。图10所示系在转动方向上,以平行光束为参,经液晶显示单元修正后所得影像图。图11(a)与11(b)所示系在垂直方向上经液晶显示单元及双凸透镜间偏差修正之显微镜影像图,图11(a)特别显示聚焦于液晶显示单元上之影像;以及图11(b)所示系聚焦于双凸透镜上之影像图。图12所示系具双凸透镜之显示面板结构部分概略图。图13所示系液晶显示单元与双凸透镜间位置关系透视图。
地址 美国