具有垂直式探针的检测卡

摘要

本发明涉及一种检测卡，用于测试一半导体集成电路芯片的故障。按照本发明的检测卡包括一垂直探针模块，具有一上安装板和一下安装板，各垂直式探针穿过它们予以装接；一整体圆环，装接于所述垂直探针模块，用于使所述各垂直式探针与一半导体集成电路芯片的各焊接区的接触平滑；一导引圆环，用于使所述整体圆环和所述垂直探针模块的活动平滑，并用于防止所述整体圆环和所述垂直探针模块向下偏斜；一间隙形成装置，用于获得所述整体圆环的一活动间隙，其中所述装置安放在所述导引圆环上方；以及一检测卡印刷电路板，上面制成一信号型板，形成在所述间隙形成装置上，从而防止所述上安装板在侧向活动，并防止所述探针模块向上偏斜。检测卡可在形成在一半导体集成电路芯片的上部上面的各焊接区与各垂直式探针之间造成平稳的接触，并且还能够同时测试多个半导体集成电路芯片。

主权项

1.一种具有垂直探针的检测卡，包括：一垂直探针模块，具有一上安装板和一下安装板，垂直式探针穿过它们予以装接；一整体圆环，装接于所述垂直探针模块的下安装板一侧，用于使所述垂直式探针与一半导体集成电路芯片的焊接区平滑接触；一导引圆环，用于使所述整体圆环和所述垂直探针模块的活动平滑，并用于防止所述整体圆环和所述垂直探针模块向下偏移；一间隙形成装置，用于获得所述整体圆环的活动间隙，其中所述装置安放在所述导引圆环上方；一检测卡印刷电路板，上面形成一信号型板，该印刷电路板形成在所述间隙形成装置上，从而防止所述上安装板在侧向活动，并防止探针模块向上偏移，使得探针模块受到限制可在检测卡印刷电路板和导引圆环之间的间隙中上下移动；一与所述半导体集成电路芯片的焊接区接触的缺口形成在每一垂直式探针上面，以便使探针本身具有弹力。