具改进可测内置电可擦可编程只读存储器的单片微计算机

摘要

在单片微计算机内的EEPROM(36)存储被编程指令代码，在把半导体晶片分割成半导体芯片之前对该EEPROM(36)进行测试，在EEPROM测试中使用的焊盘(PORT6，PORT4，PORT3，42)沿半导体芯片的一个边缘(43)排列，使外部测试器能够同时将两行探头与之接触，由此提高可测试性。

主权项

1.一种在半导体芯片(103)上制造、具有数据处理模式和测试模式的单片微计算机，包括：中央处理单元(30)，在所述数据处理模式中执行表示至少一个作业的被编程指令；电可擦可编程只读存储器(36)，存储在所述数据处理模式中被所述中央处理单元(30)使用的一些信息段，所述这些信息段被测试以便确定在所述测试模式中它们是否被正确地保持；多个通信焊盘，分成在所述数据处理模式中仅供所述作业使用的第一通信焊盘组(PORT1/PORT2；PORT0-PORT2/PORT5/PORT7-PORT13)和在所述测试模式中供测试使用的第二通信焊盘组(PORT3/PORT4/PORT6/42；PORT3/PORT4/PORT6/42/82)；多个导电通路，有选择地连接在所述多个通信焊盘、所述中央处理单元和所述电可擦可编程只读存储器之间，其特征在于，所述第二通信焊盘组的通信焊盘沿所述半导体芯片的一个边缘(43；99；102)排列。